판매용 중고 JEOL JSM 6700F #293636522

JEOL JSM 6700F는 다양한 샘플 유형에 대한 고품질 이미징 및 분석을 제공하기 위해 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 이 SEM은 뛰어난 해상도와 고심도 (High Depth of Field) 를 제공하여 최대 60,000배까지 확대할 수 있으며 최소 20äm의 수심이 인상적입니다. JEOL JSM 6700 F에는 200-30kV의 전압 범위와 1-7mm에서 조정 할 수있는 스팟 크기가 장착되어 있습니다. 또한, 이 SEM 모델은 활성 빔 러닝 타임 (Active Beam Running Time) 의 높은 듀티 사이클 (Duty Cycle) 을 가지고 확장된 기간 동안 대규모 샘플의 중단 없는 이미징을 허용합니다. JSM 6700F (Advanced Backscattered Scan Mode) 를 통해 이미징 프로세스의 아티팩트를 줄일 수 있습니다. 이 메커니즘은 스캐너의 래스터링 프로세스와 동일한 원리로 작동하여 수평선 (horizontal line) 당 여러 포인트 소스 (point source) 를 가능하게하여 래스터링 기법보다 뛰어난 해상도를 달성합니다. 이 SEM 모델에는 디지털 신호 처리 (signal signal processing) 이 내장되어 있어 샘플 이미지의 아티팩트를 줄이면서 소음 감도를 향상시킵니다. 또한 JSM 6700 F 를 EDS Microchamber 로 업그레이드하여 쉽고 안정적인 자동 스펙트럼 수집 및 분석 기능을 제공합니다. JSM (JOL JSM) 6700F 사용자 인터페이스는 직관적이고 사용이 간편하여 사용자가 신속하게 이미지를 설정하고 얻을 수 있도록 설계되었습니다. 이 SEM 모델에는 진공 챔버 (vacuum chamber) 도 장착되어 있어 화질과 해상도를 손상시키지 않고 공기에 민감한 샘플을 분석 할 수 있습니다. 전반적으로 JEOL JSM 6700 F 는 뛰어난 해상도와 수심 (depth of field) 을 제공하며, 다양한 기능을 통해 고품질 이미징 및 분석을 수행할 수 있습니다. 이 SEM 모델은 다양한 조건에서 작동 할 수 있으며, 생물학, 재료 과학, 엔지니어링 분야의 연구원들에게 이상적인 선택입니다.