판매용 중고 JEOL JSM 6600 #9136256

ID: 9136256
Scanning electron microscope (SEM) Digital camera Wafer load lock Denka lab6 cathodes with 10 to 15 spares NORAN EDS Spare parts: (1) Extender: MP001569-01 (1) Extender: AP002139(00) (1) Vacuum controller: AP001129-01 (1) MAG PWRAMP: 152048-1/1 (1) PS RGLTR CCT 1 SM151003 (1) CRT PAT: 1520048-1/1 (1) PA RGLTR CCT 2 1520048-1/1 (1) Specimen current amplifier type 103B (1) PCSM-PCD40D: EP380131 (1) EVTH DETECTOR PMT (14) Wehnelt assemblies: 804302090 (6) Wehnelt assemblies with LaB6 804302090 (3) Wehnelt assemblies withLaB6 804302090 (2) Wehnelt assemblies with LaB6 804302090 (1) Wehnelt assembly with LaB6 804302090 (2) Anodes (5) Tools (1) Silicon wafer holder 8 1/4" W/5 50MM (1) Silicon wafer holder 6 1/4" W/5 40MM (2) Silicon wafer holder 5 1/4" W/5 25MM Includes manual.
JEOL JSM 6600은 연구 환경에서 작동하도록 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경입니다. 이 장치를 사용하면 연구원은 생물학적 (biological) 에서 물질 (material) 기반 표본에 이르기까지 다양한 샘플의 구조를 관찰하고 분석 할 수 있습니다. JEOL JSM-6600은 0.1 ~ 30kV의 가속 전압과 최대 4.5 x 10 ~ 7Pa의 진공 진공 모드로 작동하여 건조 및 습식 샘플로 작동 할 수 있습니다. 이 현미경에는 필드 방출 총 (field emission gun) 과 폴 피스 스캔 렌즈 (pole piece scan lens) 를 포함한 다양한 고급 전자 광학이 장착되어 있습니다. 즉, 빔은 이미지를 수집하고 샘플에서 데이터를 수집하도록 정확하게 지시 할 수 있습니다. JSM 6600의 고성능 (HPF) 을 통해 표본에 대한 보다 정확한 분석도 가능합니다. 예를 들어, 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 은 원소 미세 분석을 수행하는 데 사용될 수 있으며, 이는 재료의 표면 조성을 측정 할 수 있습니다. 원소 분석에 추가로, 판 크로마 틱 검출기 (panchromatic detector) 와 VID (visible image detector) 는 연구자에게 표본의 이미지를 색상으로 제공하는 데 사용될 수있다. JSM-6600 은 터치스크린 (Touchscreen) 사용자 인터페이스를 갖추고 있어 현미경 (Microscope) 설정을 손쉽게 조정하고 강력한 기능을 탐색할 수 있다. 또한, 자동 (automated) 프로시저를 사용하면 현미경이 여러 샘플을 동시에 처리할 수 있다는 점을 고려하여 시간을 절약할 수 있습니다. 전반적으로 JEOL JSM 6600 (JOL JSM 6600) 의 다용성 및 고급 기능은 시장에서 가장 수요가 많은 스캐닝 전자 현미경 중 하나입니다. 고품질 (고품질) 이미지를 전달하고 샘플의 구성을 정확하게 측정하여 우수한 연구 결과를 얻을 수 있다.
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