판매용 중고 JEOL JSM 6600 #293824665
URL이 복사되었습니다!
확대하려면 누르십시오
ID: 293824665
Scanning Electron Microscope (SEM)
IdFix Energy-Dispersive X-ray Spectroscopy (EDX) system
X-Ray detector
Convent image processing system
Lens system:
Condenser lens
Objective lens
Operating mode:
SEM1
ECP
EMP
PSCN
Specimen movement range:
Direction (X, Y, Z):
X: 160 mm
Y: 160 mm
Z: 31 mm
Tilt: 0° to 60°
Rotation: 360°
Scan mode:
Pic
RD2
RD4
RDC
LSP
BUP
SPT
Power supply: 240 / 220 / 200 / 180 V, 50 / 60 Hz single phase, 6 kW.
JEOL JSM 6600 (JEOL JSM 6600) 은 미세 구조 관찰에서 고급 분석 기능에 이르기까지 다양한 어플리케이션에 뛰어난 성능, 뛰어난 사용 편의성, 뛰어난 유연성을 제공하도록 특별히 설계된 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. JEOL JSM-6600에는 배경 소음이 적은 고해상도 이미지를 제공하는 cold field emission gun (FEG) 이 장착되어 있습니다. 이를 통해 이미지 명암과 이미지 품질이 우수한 재료를 자세히 분석 할 수 있습니다. 또한 JSM 6600 은 데이터 수집 및 이미지 처리를 위한 고속 DSP (Digital Signal Processor) 를 지원하므로, 이미지 획득 및 이미지 조작이 빨라집니다. 또한 JSM-6600은 보조 및 백스캐터일렉트론 모드에서 통합 전하 커플 링 장치 이미징 (옵션) 을 갖춘 뛰어난 이미징 시스템을 갖추고 있습니다. 다양한 확대 기능을 갖춘 HD 이미지를 제공합니다. 이미징 시스템에는 다양한 명암비 (Contrast-Enhancement) 기술이 포함되어 있어 월등한 명암과 이미지의 선명도를 제공합니다. JEOL JSM 6600에는 원소 및 화학 분석을위한 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 및 파장 분산 X- 선 분광법 (WDS) 을 포함하는 다양한 분석 기능이 있습니다. 이러한 기능을 통해 재료의 정밀 및 화학 분석 및 매핑이 가능합니다. JEOL JSM-6600에는 표준 표본 보유자, 냉동 보유자, 액체 질소 등 다양한 표본 보유자가 장착될 수 있으며, 다양한 응용 분야에 대한 다양한 표본 조작 기술을 제공합니다. JSM 6600 (JSM 6600) 은 재료 분석 및 미세 구조 관찰을위한 기술적으로 진보되고 안정적이며 다양한 도구입니다. 이 SEM 은 탁월한 성능, 사용 편이성, 유연성을 제공하므로 다양한 업종의 다양한 애플리케이션에 적합한 솔루션입니다 (영문).
아직 리뷰가 없습니다