판매용 중고 JEOL JSM 6510LA #293632286

ID: 293632286
Scanning Electron Microscope (SEM) Cooling water system (2) ULVAC Pumps.
JEOL JSM 6510LA는 이미징, 미량 요소 분석, 고장 분석 등 다양한 응용에 적합한 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 SEM에는 고해상도 이미징을위한 고성능 전계 방출 전자 건 (HPP) 과 진공 요구 사항을 위한 High Vacuum/Low Vacuum 기능이 장착되어 있습니다. 최소 가속 전압은 1kV로 저에너지 환경에서 효율적인 샘플 이미징이 가능합니다. JSM 6510LA는 ± 35mm의 X, Y 및 Z 여행으로 강력한 스테이지로 큰 다이 표면과 도전적인 샘플을 쉽게 액세스 할 수 있습니다. 5 축 마이크로 포지티오너 (micropositioner) 는 샘플의 정확한 정렬 및 이동을 가능하게하여 전체 컴포넌트의 전체 액세스 및 이미징을 허용합니다. JEOL JSM 6510LA에는 고속 디지털 이미지 컨버터가 장착되어 있어, 넓은 동적 범위의 저소음 이미징이 가능합니다. 이 SEM을 사용하면 두께가 2nm 이하인 피쳐의 이미징 (Imaging) 을 수행할 수 있으며, 이는 탁월한 정확도와 세부 (detail) 를 제공합니다. 또한, 여러 이미지 스티칭 기능을 사용하여 개체의 매끄러운 파노라마 보기를 만들 수도 있습니다. JSM 6510LA에는 Stereo Imaging 및 Real-Time X-Ray Imaging을 포함한 자동화된 운영 및 처리를 위한 포괄적인 소프트웨어 패키지가 포함되어 있습니다. 이 소프트웨어는 이미징 프로세스를 단순화하여 처리량 및 사용 편의성을 극대화합니다. 샘플의 빠른 원소 분석을 위해 공간 해상도가 매우 좋은 통합 EDX (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy) 가 포함되어 있습니다. 마지막으로 JEOL JSM 6510LA는 높은 처리량과 낮은 유지 관리를 위해 설계되었습니다. 챔버 (chamber) 구조와 전자 광학은 장기간의 지속적인 작동과 뛰어난 안정성을 위해 설계되었습니다. 사용이 간편한 직관적인 사용자 인터페이스와 함께, 이 SEM 은 탁월한 기능과 뛰어난 성능을 제공합니다.
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