판매용 중고 JEOL JSM 6510LA #293607337

JEOL JSM 6510LA는 고해상도 이미징 및 분석을 제공 할 수있는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 유형의 장치는 재료 과학, 금속 공학, 전자 공학 (electronics) 과 같은 분야에서 샘플에 대한 표면 및 지하 정보를 제공하기 위해 널리 사용됩니다. JSM 6510LA (JSM 6510LA) 에는 다양한 기능이 장착되어 있어, 다양한 재료에 대한 정확하고 상세한 이미지를 만들 수 있습니다. 여기에는 매우 작은 전자 스팟 크기를 생성 할 수있는 쇼트 키 (Schottky) 전자원이 포함되며, 그 결과 고해상도 이미지가 생성됩니다. 또한, SEM에는 샘플의 3 차원 표면 형태를 관찰하고 모니터에 직접 표시 할 수있는 인 렌즈 (in-lens) 2 차 전자 검출기가 장착되어 있습니다. JEOL JSM 6510LA (JOL JSM 6510LA) 에는 광범위한 사용자 입력 없이 쉽게 작동하고 분석을 수행할 수 있는 다양한 자동 기능이 장착되어 있습니다. 이러한 기능에는 자동 이미지 스티칭 시스템, 자동 표본 정렬 시스템, 자동 백스캐터 전자 검출기, 자동 이미지 스케일링 시스템이 포함됩니다. 이러한 기능을 사용하면 좌표를 수동으로 입력하거나 샘플 방향을 모니터링할 필요 없이 이미지를 빠르고 정확하게 분석할 수 있습니다. JSM 6510LA (JSM 6510LA) 는 자동화된 기능 외에도 다양한 수동 (manual) 컨트롤을 장착하여 전자빔 건 설정을 조정할 수 있습니다. 여기에는 가속 전압, 스팟 크기, 밝기 및 난시 설정이 포함됩니다. 수동 제어 (Manual Controls) 를 사용하면 전자빔의 매개변수를 정확하게 제어하여 특정 요구사항에 맞춘 이미지를 생성할 수 있습니다. JEOL JSM 6510LA에는 SEM 기반 x- 선 분산 분광법 (XEDS), 전자 백스캐터 회절 (EBSD) 및 에너지 분산 X- 선 분석 (EDAX) 을 포함한 다양한 분석 기능이 장착되어 있습니다. 이러한 분석 기술을 통해 사용자는 주어진 샘플의 구조 및 화학적 구성 (structural and chemical make-up) 에 대한 통찰력을 얻어 더 많은 정보를 얻을 수 있습니다. JSM 6510LA (JSM 6510LA) 는 신뢰성 있고 강력한 스캐닝 전자 현미경으로, 광범위한 물질에 대한 상세하고 정확한 이미지를 만들 수 있습니다. 자동화된 기능과 수동 제어 (manual control) 의 조합으로 구동되는 이 SEM (SEM) 은 샘플의 표면 및 지표면 (subsurface) 기능에 대한 정확한 분석을 용이하게 하며, 많은 과학 및 산업 분야에서 귀중한 도구입니다.