판매용 중고 JEOL JSM 6510 #9184193
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판매
ID: 9184193
빈티지: 2012
Scanning electron microscope (SEM)
Tungsten filament
Includes:
Standard recipe
Stigmator memory
Dual live image
Full size image display
Pseudo color
Digital zoom
Dual magnification
Measurement
Auto image archiving
JED-2300 EDS (JSM-6510LA and JSM-6510A)
Resolution HV mode: 3.0 nm (30 kV), 8nm (3 kV), 15 nm (1 kV)
LV Mode: 4.0 nm (30 kV) (JSM-6510LA and JSM-6510LV)
Magnification: 5 x 300,000 (on 128 mm x 96 mm image size)
Preset magnifications: (5) Steps
Custom recipe:
Operation conditions:
Optics
Image mode
LV Pressure
Image mode:
Secondary electron image
REF Image
Composition (JSM-6510LA and JSM-6510LV)
Topography (JSM-6510LA and JSM-6510LV)
Shadowed (JSM-6510LA and JSM-6510LV)
Accelerating voltage: 0.5 kV to 30 kV
Filament: Factory pre-centered filament
Electron gun: Automated, manual override
Condenser lens: Zoom condenser lens
Objective lens: Super conical objective lens
Objective lens apertures: (3) Stages, XY fine adjustable
Electrical image shift: ± 50 μm (WD = 10 mm)
Auto functions: Focus, brightness, contrast, stigmator
Eucentric large-specimen stage:
X: 80 mm
Y: 40 mm
Z: 5 mm to 48 mm
Tilt: −10° to 90°
Rotation: 360°
Reference image (navigator): (4) Images
Maximum specimen: 150 mm diameter
PC: IBM PC/AT Compatible
OS: Windows 7
Monitor: 19" LCD
Frame store: 640 x 480, 1280 x 960, 2560 x 1920, 5120 x 3340
Multi image display:
(2) Images
(4) Images
Network: Ethernet
Image format: BMP, TIFF, JPEG
Fully automated pumping system:
DP1(Diffusion pump)
RP1(Dough pump)
2012 vintage.
JEOL JSM 6510은 고해상도 특성화와 이미징 모두를 위해 설계된 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 업계에서 검증된 최신 기술로, 고품질 이미징 및 향상된 처리량을 제공합니다. 큰 시야 (FOV) 와 향상된 깊이 (DOF) 를 통해 JSM 6510은 샘플의 미세한 구조를 해결할 수 있습니다. JEOL JSM 6510은 최첨단 열 덕분에 뛰어난 이미징 기능과 향상된 신호 대 잡음비를 제공합니다. 고해상도 (고해상도), 고해상도 (고해상도), 고해상도 (고해상도), 고공간 (고공간) 해상도로 이미지를 제작할 수 있는 평면 렌즈가 장착되어 있습니다. 2 차 전자 탐지기 (SED) 에는 고감도 저전압 탐지기 및 에너지 스펙트럼 이미징 기능이 장착되어 있어, 사용자가 정확도가 향상된 분석 작업을 수행 할 수 있습니다. JSM 6510 은 여러 가속 전압, 전자 감지 (electron detection), 이미징 (imaging) 을 통해 유연성을 제공하므로 다양한 샘플과 분석 작업에 적용할 수 있습니다. 또한, 자동 샘플 마운트 시스템 (sample mount system) 과 샘플을 자동으로 감지하여 정확하고 반복 가능한 결과를 제공합니다. JEOL JSM 6510은 기울기 입체, 단층 촬영, 검사 및 3D 이미징과 같은 다양한 추가 기능을 제공하여 샘플에 대한 포괄적 개요를 제공합니다. 또한 JSM 6510은 열 내 래스터링 (in-column rastering) 단계를 사용하여 선호하는 이미징 영역과 기울기, 해상도 등의 매개 변수를 선택하여 이미지를 다듬을 수 있습니다. 또한 JEOL JSM 6510 은 오픈 소프트웨어 플랫폼으로 설계되었으며, 사용자는 이미지 처리 절차를 사용자 정의하고 자동 루틴 (automated routine) 과 같은 기능을 추가할 수 있는 유연성을 제공합니다. JSM 6510은 생물학적, 환경, 재료, 기타 분석 응용프로그램 등 다양한 특성화와 이미징 작업에 이상적인 도구입니다. 고급 이미징 기능과 사용자 친화적 기능을 결합한 JEOL JSM 6510은 탁월한 이미징 성능을 제공합니다.
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