판매용 중고 JEOL JSM 6510 #293758764

JEOL JSM 6510 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 나노 스케일 또는 원자 수준에서 샘플의 고해상도 분석을 얻는 데 사용되는 고급 이미징 및 분석 도구입니다. 다양한 고급 이미징 (advanced imaging) 기능을 통해 사용자가 쉽게 다양한 표본의 특징을 정확하게 파악할 수 있습니다. JSM 6510에는 GIS 필드 방출 전자 총 (GIS field emission electronic gun) 이 장착되어 있어 고에너지 전자의 샘플을 손상시키지 않고 최고 수준의 디테일을 얻기 위해 추가 저전압 영상을 제공합니다. 현미경은 3.4kV에서 20kV를 사용하고 0.2nm 해상도를 갖는 개선 된 저전압 Cs Field Emission Gun (FEG) 을 사용합니다. 또한 3 축 모터 화 스테이지와 2 개의 다른 모터 포커스 노브 (motorized focus knobs) 가 특징이며, 이를 통해 사용자는 정확성과 약간의 조정으로 샘플에 집중할 수 있습니다. JEOL JSM 6510은 또한 14 메가 픽셀 전하 결합 장치 (CCD) 카메라로 구성된 이미지 캡처 시스템을 제공합니다. 이 카메라는 최대 14 메가 픽셀 이미지를 생성하며 3 배 광학 줌, 6.3 배 디지털 줌 및 8 배 컬러 슬라이더 모드를 포함합니다. 이를 통해 사용자는 상세하고 정확한 이미지를 생성하여 분석할 수 있습니다. JSM 6510은 샘플을 자세히 조사하기 위해 여러 분석 기술을 사용합니다. 여기에는 요소 분석을위한 에너지 분산 분광법 (EDS), 회절 및 재결정 연구를위한 전자 역 산란 회절 (EBSD), 샘플로부터의 발광 이미징 및 분석을위한 카토 돌 발광 (CL) 이 포함됩니다. 현미경은 또한 2 차 전자 영상 (SEI), 2 차 전자 분광학 및 역산 전자 영상 (BEI) 과 같은 많은 추가 마이크로 그래프 기능을 제공합니다. JEOL JSM 6510 (JOL JSM 6510) 은 다양한 연구 응용프로그램에서 표본의 정확하고 상세한 이미지를 제공하도록 설계된 매우 다양한 이미징 및 분석 도구입니다. 첨단 기능 (Advanced Features) 과 분석 (Analytical) 기능은 연구원들이 샘플 자료를 더욱 파악할 수 있도록 자세한 결과를 제공합니다.