판매용 중고 JEOL JSM 6500F #293825137

JEOL JSM 6500F (Advanced Scanning Electron Microscope) 는 다양한 학술 및 산업 연구 응용 분야에 적합한 최첨단 기능과 기능을 갖춘 SEM (Advanced Scanning Electron Microscope) 입니다. 고성능 이미징 및 분석 기능을 갖춘 JEOL JSM-6500 F (JOL JSM-6500 F) 는 마이크로 및 나노 스케일에서 다양한 재료에 대한 고해상도 이미지와 상세한 화학 분석을 제공하도록 설계되었습니다. JSM 6500F는 고해상도 냉장 방출 전자 건 (cold field emission electron gun) 을 갖추고 있어 최대 1.0nm (1kV) 의 초고해상도로 뛰어난 이미징 성능을 낼 수 있습니다. 이를 통해 사용자는 매우 자세한 내용을 가진 샘플을 분석 할 수 있으며, 나노 물질, 생물학적 표본, 고분자 및 반도체를 연구하는 데 이상적입니다. 현미경은 또한 5 배에서 300,000 배 사이의 광범위한 확대 옵션을 제공하여 다중 스케일에서 샘플을 관찰할 수있는 유연성을 제공합니다. JSM-6500 F의 뛰어난 기능 중 하나는 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 을 포함하는 고급 분석 기능입니다. 이 통합 EDS 시스템을 통해 사용자는 샘플에 대한 원소 분석을 수행하고, 감도와 정확도가 높은 재료의 화학 성분을 식별하고, 정량화할 수 있습니다. 이 시스템은 붕소 (boron) 에서 우라늄 (uranium) 에 이르는 원소를 감지 할 수 있으므로 다양한 재료를 특성화하기위한 강력한 도구입니다. JEOL JSM 6500F는 EDS 외에도 WDS (wavelength distersive X-ray spectroscopy) 기능을 갖추고 있으며 EDS에 비해 에너지 해상도가 훨씬 높고 배경비가 가장 높습니다. 이것은 복잡한 원소 조성을 가진 미량 요소와 재료를 분석하는 데 특히 유용합니다. EDS와 WDS의 조합은 사용자에게 요소 분석 (elemental analysis) 을위한 포괄적 인 솔루션을 제공하여 샘플에 대한 자세한 화학 정보를 얻을 수 있습니다. JEOL JSM-6500 F는 다양한 분석 요구에 맞게 다양한 혁신적인 이미징 모드를 제공합니다. 2 차 전자 (SE) 및 백스캐터링 전자 (BSE) 이미징과 같은 표준 이미징 모드 외에도, 현미경은 저진공 (LV) 이미징과 같은 특수 모드를 제공하므로 코팅이 필요하지 않은 비 전도성 샘플을 이미징할 수 있습니다. 이 기능은 기존의 SEM 이미징에 필요한 높은 진공 상태 (high vacuum conditions) 에 의해 손상되기 쉬운 생물학적 샘플이나 재료에 특히 유용합니다. JSM 6500F (JSM 6500F) 에는 직관적인 사용자 인터페이스와 고급 자동화 기능이 장착되어 있어 운영 및 데이터 분석을 간소화합니다. 마이크로스코프 (microscope) 는 사용자 입력이 최소화되어 고품질 이미지를 신속하게 수집하고 복잡한 분석 작업을 수행하여 처리량이 높은 연구 응용프로그램에 적합합니다. 이 도구는 또한 입자 크기 분포 분석, 라인 프로파일 측정, 위상 매핑 (phase mapping) 과 같은 입자 이미지에서 정량 정보를 추출하는 다양한 이미지 처리 및 분석 도구를 제공합니다. 전반적으로, JSM-6500 F는 다재다능하고 고성능 스캐닝 전자 현미경으로, 광범위한 연구 응용프로그램을 위한 고급 이미징 및 분석 기능을 제공합니다. 초고해상도 이미징, 고급 원소 분석, 사용자 친화적 인 인터페이스를 갖춘 JEOL JSM 6500F는 재료 과학, 나노 기술, 생물학, 반도체 공학 등의 분야에서 일하는 연구원 및 엔지니어에게 유용한 도구입니다.