판매용 중고 JEOL JSM 6500F #293604703

JEOL JSM 6500F는 최첨단 이미징 및 분석을 위해 설계된 고해상도 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 고해상도 이미징 (high resolution imaging) 및 분석 (analytical) 기능을 제공하여 재료 연구 및 장애 분석에서 반도체 장치 분석, 프로세스 제어 및 샘플 준비에 이르기까지 다양한 재료 특성 응용 프로그램에 사용할 수 있습니다. JEOL JSM-6500 F (JOL JSM-6500 F) 는 전체 샘플 조작을 위해 자동 샘플 체인저를 사용하여 나노미터 해상도까지 개체를 관찰 할 수 있습니다. 현미경은 자동화 기능, 조이스틱 제어 단계, 고속 스캔을 통해 사용 편의성을 위해 설계되었습니다. 고성능 옵틱이 장착되어 있어, 정확도가 높은 이미징 및 동적 노이즈 감소 기능을 제공합니다. "검출기 (Detector) '는 모든 기능 범위에 맞게 최적화되어 뛰어난 명암과 해상도를 얻을 수 있습니다. JSM 6500F는 또한 원소 분석을위한 에너지 분산 분광법 (EDS) 및 파장 분산 분광법 (WDS) 을 포함한 완전한 분석 기능을 제공합니다. 이 두 기술 모두 정확도가 높은 빠르고 신뢰할 수있는 원소 매핑을 가능하게합니다. JSM-6500 F는 또한 X 선 이미징 스테이지와 자동 곡물 측정에 사용될 수 있으며, 빔 에너지 (beam energy) 와 탐지 인텔리전스 (detection intelligence) 를 신중하게 선택하여 최대 정확성과 반복성을 보장합니다. JEOL JSM 6500F는 현미경, 검출기 기능의 자동 제어 (automated control), 자동 신호 보조 (automated signal assist) 기능과 같은 고급 제어 기능을 제공하여 분석 결과를 추가로 개선합니다. 이 현미경은 또한 고급 데이터 획득 (advanced data acquisition) 및 분석 (analysis) 기능을 제공하여 사용자가 스캔 영역, 매개변수, 신호 및 데이터 수집을 완벽하게 제어할 수 있도록 합니다. 고해상도, 자동화된 기능, 다양한 분석 기능이 결합된 JEOL JSM-6500 F (JOL JSM-6500 F) 는 다양한 연구/실험실 요구 사항을 충족하는 완벽한 툴입니다.