판매용 중고 JEOL JSM 6490LA #9285392

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ID: 9285392
Scanning Electron Microscope (SEM) Tungsten filament Specimen exchange chamber / Airlock Secondary electron detector and backscatter detector Chamber camera Does not include EDS or anti-vibration pads Operating system: Windows 7.
JEOL JSM 6490LA는 재료 과학, 산업 검사, 고장 분석 등 다양한 분야에서 널리 사용되는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 첨단 기술을 활용하여 놀라운 수준의 이미지 해상도를 제공합니다. JSM 6490LA (JSM 6490LA) 에는 고유한 고성능 스캔 제너레이터가 장착되어 있어 명암질이 높은 이미지를 더 밝게 제작할 수 있도록 특별히 개발된 제품입니다. 즉, 기울기 (tilt) 및 회전 (rotation) 측정을 모두 지원하므로 성능에 최적화된 고정밀 샘플의 3D 이미지를 캡처할 수 있습니다. SEM은 1.5 nm 해상도를 제공하는 낮은 진공 성능 시스템과 1eV ~ 40 keV 범위의 에너지를 가진 전자를 감지 할 수있는 탐지 시스템을 갖추고 있습니다. 이 강력한 시스템을 통해 사용자는 최대 5nm 해상도의 이미지를 만들 수 있습니다. 현미경은 또한 다양한 샘플 유형과 크기를 수용하기 위해 2 개의 다른 샘플 인터페이스를 사용합니다. 첫 번째는 한 번에 최대 20 개의 다른 샘플을 처리 할 수있는 자동 샘플 체인저입니다. 두 번째는 수동 샘플 홀더 (manual sample holder) 로, 사용자가 챔버에 샘플을 빠르고 효과적으로 배치할 수 있습니다. JEOL JSM 6490LA는 또한 교체 가능한 마이크로 탄소 진공원으로 설계되어 극한의 진공 수준을 제공합니다. 이렇게 하면 SEM이 생성한 이미지의 배경 노이즈가 크게 최소화됩니다. 이 기능에는 SEM 수명을 연장하고, 지형 이미지를 수집할 수 있도록 하는 등 수많은 응용 프로그램이 있습니다. JSM 6490LA (JSM 6490LA) 는 분석과 탐색을 위한 매우 강력한 도구로서, 다양한 실험실 응용프로그램에 이상적인 도구입니다. 첨단 기술과 매우 높은 수준의 이미징 해상도 (Imaging Resolution) 는 탁월한 이미지와 실험과 검사를 위한 데이터를 제공합니다. 이는 작업에서 최고 수준의 이미징 (Imaging) 정확성을 요구하는 사람들에게 탁월한 선택입니다.
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