판매용 중고 JEOL JSM 6480LV #9249037

JEOL JSM 6480LV 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 은 현미경 수준에서 재료 샘플을 분석하는 데 사용되는 실험실 기기입니다. 전자의 고에너지 빔 (beam) 을 사용하여 표본과 상호 작용하고, 표본과의 빔 (beam) 의 상호 작용에 기반한 형태의 데이터가 생성됩니다. JSM 6480LV는 Everhard-Thornley SE (2 차 전자) 검출기를 통해 고해상도 이미징과 효율적인 BSE 이미징을 제공하는 현대적인 BSE (back-scattered electron) 검출기를 제공합니다. 저가속 전압으로 작동하여 SEM (non-conductive samples) 연구에 적합합니다. 대형 챔버 (large chamber) 를 사용하면 진공실 없이 다양한 샘플을 쉽게 배치하고 조작할 수 있습니다. JEOL JSM 6480LV SEM은 최대 12 x 0.9mm 크기의 샘플을 볼 수있는 넓은 시야를 가지고 있으며, 배율은 최대 500,000x입니다. 이 기기의 고해상도는 물질 샘플에서 복잡한 구조와 특징에 대한 2D 이미징 (2D imaging) 및 화학 분석 (chemical analysis) 을 가능하게하며, 나노 기술 (nanotechnology) 의 연구 및 개발에 효과적인 도구가된다. 신뢰할 수있는 반복 가능한 결과를 보장하기 위해 JSM 6480LV는 가변 스팟 이미징 (variable spot imaging) 과 같은 여러 가지 고급 기능을 자랑하여 표본의 국소화 된 변화를 조사하고 전송 전자 현미경을 스캔합니다. (STEM) 분석은 가벼운 요소, 내장 X-ray miniprobe 및 EDX Detector for elemental 분석, 그리고 수집된 데이터를 자동으로 정렬하고 사용자가 제어할 수 있도록 광범위한 소프트웨어 패키지를 제공합니다. JEOL JSM 6480LV는 나노 재료, 제약 약물 디자인, MEMS 생산, 법의학 조사 등 다양한 분야의 연구에 이상적인 도구입니다. 초소형 (microscopic) 수준의 광범위한 소재 샘플을 시각화· 분석해야 하는 과학자와 엔지니어에게는 탁월한 화질 (imaging quality) 을 자랑한다.