판매용 중고 JEOL JSM 6401 #9073237

JEOL JSM 6401은 전자 빔을 사용하여 높은 배율로 샘플 표면의 이미지를 생성하는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 고해상도는 1.3 nm로, 연구자들은 정밀하게 원자 스케일 샘플을 관찰 할 수 있습니다. 전자 빔 (electron beam) 이 어떤 식 으로든 샘플에 영향을 미치지 않기 때문에 SEM을 사용하여 샘플을 비 침습적으로 분석 할 수 있습니다. JSM 6401은 전자 빔을 높은 정확도로 집중하고 지시하는 강력한 FEG (field emission gun) 를 포함합니다. 이 총의 가속 전압은 최대 30kV이며 액체 질소로 냉각됩니다. 이렇게 하면 빔이 선명하고 균일하게 유지되어 고품질 이미지가 생성됩니다. 현미경은 또한 전자 광학과 샘플을 열 손상으로부터 보호하기 위해 액체 질소 냉각 시스템 (liquid nitrogen cooling system) 을 포함합니다. JEOL JSM 6401은 다양한 이미징 모드를 제공하여 연구원들이 다양한 방식으로 샘플 표면을 관찰 할 수 있습니다. 가장 주목할만한 것은 스캐닝 모드 (scanning mode) 로, 샘플 지형의 일반 이미지를 캡처하는 데 사용되며, 샘플 구성을 분석하는 데 사용되는 BSD (backscatter electron imaging) 모드입니다. EDX (energy dispersive x-ray) 모드, EBSD (electron backscatter diffraction) 모드 및 고해상도 이미징 모드 (high-resolution imaging mode) 와 같은 다른 모드도 조사중인 샘플에 대한 더 많은 통찰력을 가질 수 있습니다. 이미징 기능 외에도 JSM 6401 에는 여러 샘플을 신속하게 SEM 에 로드하는 자동 샘플 홀더 (Automated Sample Holder) 가 포함되어 있습니다. 이 홀더에는 지오미터 (goniometer) 가 장착되어 있어 최적의 샘플 위치를 지정하고 수동 샘플 조정이 필요하지 않습니다. 또한, 이 시스템에는 획득한 이미지를 처리하고 밝기 (brightness) 와 명암비를 조절할 수 있는 디지털 이미지 프로세서 (digital image processor) 가 포함되어 있습니다. JEOL JSM 6401은 신뢰할 수있는 스캐닝 전자 현미경으로, 연구원들에게 강력한 이미징 및 분석 기능을 제공합니다. 고해상도 (High Resolution) 와 다양한 이미징 모드를 통해 원자 수준에서 샘플을 검사할 수 있으며, 자동 샘플 홀더 (Sample Holder) 와 디지털 이미지 프로세서 (Digital Image Processor) 는 획득한 이미지를 로드하고 처리하는 작업을 단순화합니다. 이러한 기능을 함께 사용하면 JSM 6401을 실험실에서 귀중한 도구로 만들 수 있습니다.