판매용 중고 JEOL JSM 6400F #9210557

JEOL JSM 6400F는 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 으로, 효율적인 schottky field emitter gun으로 인해 다양한 샘플의 이미징 및 분석에 이상적입니다. 고해상도 (high resolution) 와 대용량 필드 (depth of field) 기능을 통해 표면의 구조와 샘플의 내부 기능을 모두 해결할 수 있습니다. 저해상도 (low-kV) 범위까지 샘플을 이미징 할 수있는 고해상도 영역 검출기가 있습니다. JEOL JSM 6400 F (JOL JSM 6400 F) 는 2축 기울기 홀더를 사용하여 표본의 3D 표면 뷰를 생성하고, 수직 방향과 수평 방향에서도 뷰를 얻을 수 있도록 다양한 각도로 이미지 샘플을 사용합니다. JSM 6400F의 놀라운 기능 중 하나는 신호 채널의 감지 성능입니다. 이 특정 신호 채널은 X-Y 이미징 시스템 및 고급 신호 회로로 백업됩니다. 이러한 기능은 저전압 이미징 (low voltage imaging) 과 빠른 이미지 디스플레이 (quick image display) 를 가능하게하며, 이는 생물학적 및 유기 샘플의 관찰 및 분석에 적합합니다. 또한 이 SEM 은 최대 x400,000 까지 확장할 수 있는 다양한 기능을 갖추고 있습니다. 또한, 이 SEM은 강력한 환경 시스템을 가지고 있으며, 전자빔 유도 표본 전하 축적 방지에 필요한 3.2 ~ 5 torr의 일정한 현미경보기 챔버 압력을 유지할 수 있습니다. JSM 6400 F 에는 컴퓨터 제어 자동 스테이지 (auto-stage) 도 장착되어 있는데, 이 자동 스테이지 (auto-stage) 는 속도 및 정확도 향상을 위해 다양한 위치로 이미징 후 샘플 스테이지를 자동으로 이동할 수 있습니다. 이 SEM 은 또한 밝은 광학 (Optics) 제어 기능을 갖추고 있어, 이미지를 입수한 후 SEM 이미지의 밝기와 대비를 정확하게 조정할 수 있습니다. 이 기능은 매우 약한 신호의 시각화 (visualization) 와 분석을 가능하게하며, 이는 이미지화하기 어려운 복잡한 생물학적 구조를 시각화하는 데 중요합니다. 마지막으로, JEOL JSM 6400F 는 데이터 수집 및 분석을 위한 다양한 소프트웨어 패키지 (사용자 친화적, 직관적) 를 갖추고 있어 사용이 간편합니다. JEOL JSM 6400 F 의 확대 기능은 제한적이지만, 이 SEM 의 다용도 및 성능은 하이엔드 SEM 중 하나이다. 해상도 향상 (Enhanced Resolution), 틸트 홀더 (Tilt Holder) 및 컴퓨터 제어 기능으로 인해 다양한 샘플을 이미징 및 분석하는 데 매우 강력한 도구입니다.