판매용 중고 JEOL JSM 6400F #9102730

JEOL JSM 6400F는 고급 기능과 작은 크기를 결합한 FESEM (Field-Emission Scanning Electron Microscope) 으로, 다양한 재료 연구 응용 분야에 고성능 이미징, 분석 및 측정 도구를 제공합니다. JEOL JSM 6400 F는 빔 스팟 크기가 1 나노 미터 인 전자를 생성하는 독특한 FEG (field emission gun) 를 사용합니다. 이것은 독특한 트리플 건 디자인 (triple gun design) 과 고급 기술과 결합하여 샘플 충전 및 표면 효과를 제거합니다. 모놀리식 (Monolithic) 워크플로에는 동시 이미징을위한 이중 검출기가 포함되어 있어 고해상도 이미징, 화학 분석, 표면 지형이 매우 정확합니다. 표본 챔버는 또한 1x10-6 Pa (1 x 10-6 Pa) 의 낮은 진공 수준을 제공하여 고해상도 표면 및 광학 현상에 대한 연구에 이상적입니다. JSM 6400F는 이미징, 분석 및 측정 성능에서 중요한 장점을 제공합니다. 최대 8nm의 고해상도 전자광학 (Electron Optic) 및 픽셀 해상도 (Pixel Resolution) 는 탁월한 선명도로 작은 기능을 이미징할 수 있습니다. SAM (Scanning Auger microscopy) 및 EDS (X-ray energy dispersive spectrometry) 기능은 원자 수준의 정확도를 가진 표본의 화학 분석을 가능하게합니다. WDS (Wavelength-distersive spectroscopy) 및 EBSD (Electron Backscatter Diffraction) 를 포함한 고급 기술은 나노 영역에서 3D 화학 및 결정 영상을 가능하게합니다. 또한, 낮은 진공 환경 (low vacuum environment) 은 이미징 프로세스 동안 변화가 발생하지 않도록 보장하여 장기 실험에 대한 신뢰할 수있는 이미징을 허용합니다. JSM 6400 F 는 사용자 친화적, 직관적인 소프트웨어 인터페이스를 통해 모든 운영 매개변수 및 시스템 설정을 효율적으로 제어할 수 있습니다. 또한 이 인터페이스를 통해 실시간 데이터 캡처 및 다른 분석 툴과의 통합이 가능합니다. 자동 샘플 준비 도구 (automated sample preparation tools) 는 샘플 준비에 소요되는 시간을 단축하는 반면, 자동 분석 도구 (automated analysis tools) 는 마우스 클릭 몇 번으로 현미경 데이터를 분석할 수 있습니다. JEOL JSM 6400F는 나노 기술, 재료 과학, 반도체 물리학, 반도체 장치 분야의 연구 개발을 위해 훌륭한 선택입니다.