판매용 중고 JEOL JSM 6400F #293595853
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ID: 293595853
빈티지: 2001
Scanning Electron Microscope (SEM)
Field emission gun
Resolution: 1.5 nm at 30 kV and at 8 mm WD
Magnification: 10x to 500000x
Probe current: 10 x 10-12 A to 10 x 10-10 A
Electron gun: Cold cathode field emission
Detectors: Scinitillator / Photomultiplier
GW Electronic system 47 Backscattered detector
Specimen stage: Fully eucentric goniometer stage
Tilt: -5° to 60°
Rotation: 360°
Movements:
X = 100 mm
Y = 110 mm
Z = 34 mm
Specimen exchanger:
Specimen holder airlock, 6"
Larger specimen holder drawout, 8"
EDS Detector: Prism 2000 Si(Li) 30 mm
Imix acquisition system allowing be detection
EBSD Detector: OXFORD HKL Allowing crystallographic orientation
Accelerating Voltage: 500 V to 30 kV
2001 vintage.
JEOL JSM 6400F 스캐닝 전자 현미경은 광범위한 샘플의 관찰 및 분석에 사용되는 최첨단 기기입니다. 생물학적, 산업 및 기타 재료의 고해상도 이미지를 생성 할 수 있습니다. 이 기기에는 고속 모터 스캔, 특수 고진공 장비, 디지털 이미지 처리 시스템, 대화식 사용자 인터페이스 (interactive user interface) 가 장착되어 있습니다. JEOL JSM 6400 F에는 가열된 텅스텐 필라멘트 (tungsten filament) 로부터의 열전자 방출을 이용하는 FEG (field emission gun) 전자원이 장착되어 있습니다. 이 전자원은 매우 높은 밝기의 미세 집중 프로브를 생성하는데, 이는 스캐닝 전자 현미경에서 마이크로 그래프 (micrograph) 를 생성하는 데 사용됩니다. 총은 5 ~ 150 kV의 다양한 배율을 가질 수 있으며, 해상도가 0.3nm 인 고해상도 이미징 (High Resolution Imaging) 에 사용할 수 있습니다. 또한 JSM 6400F 는 고속 (high-speed) 모터스캔을 통해 일관된 해상도로 이미지를 신속하게 캡처할 수 있습니다. motorscan 기술을 사용하면 표본 표면에서 자동 스캐닝이 매우 정확하며, 이미지 획득 시간은 0.5 밀리초 (밀리초) 입니다. 최고 해상도의 이미지를 확보하기 위해 기기에는 특수 고진공 장치 (HVU) 가 장착되어 있습니다. 이 기계는 샘플의 이미지를 생성하는 데 사용되는 전자가 공기 분자 (air molecule) 와 충돌하지 않는 고진공 (high-vacuum) 환경을 만듭니다. 이미지의 고품질을 추가로 보장하기 위해 JSM 6400 F는 공간 해상도가 1mm 미만인 열적 에미터 (thermionic emitter) 어셈블리도 갖추고 있습니다. 또한 기기는 디지털 이미지 처리 도구로 구성됩니다. 이 에셋에는 컴퓨터와 대화형 사용자 인터페이스가 있는 모니터가 포함됩니다. 이 인터페이스를 사용하면 이미지의 크기 (size) 와 배율 (magnification) 을 변경할 수 있고, 이미지 획득 시 밝기와 대비를 조정할 수 있습니다. 요약하면, JEOL JSM 6400F는 필드 방출 총, 고속 모터 스캔, 특수 고진공 모델, 열성 에미터 어셈블리 및 대화식 사용자 인터페이스가있는 디지털 이미지 처리 장비를 갖춘 고급 스캐닝 전자 현미경입니다. 이 정교한 기기는 사용자가 동적 이벤트를 관찰할 수 있도록 빠른 속도로 선명하고, 고해상도 (high resolution) 이미지를 생성할 수 있습니다.
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