판매용 중고 JEOL JSM 6400F #136301

JEOL JSM 6400F는 다양한 연구 및 제조 응용 분야에 사용되는 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 뛰어난 해상도를 제공하며 CFAS (Column Focus Alignment System) 를 갖춘 beamoptic 시스템을 제공하며 초고해상도 샘플 이미지를 제작할 수 있습니다. JEOL JSM 6400 F에는 2 차 전자 (SE), 백스캐터 전자 (BSE) 및 개폐식 X- 선 분석 기능이 장착되어 있습니다. 환경 SEM (ESEM) 모드 및 진공 모드에서 다양한 작동 압력으로 작동 할 수 있습니다. 자동 스테이지 컨트롤러를 추가하면 자동화된 정렬, 조잡한, 세밀한 샘플 포지셔닝 조정이 가능합니다. 전자 소스는 처짐 범위 10.2cm, 스팟 크기 5m보다 작은 4.5kV, 1.5PA 빔을 생성합니다. 고대비 이미징을 제공하기 위한 CFAS (Column Focus Alignment System) 가 특징입니다. 필드 방출 총 (FEG) 및 에너지 분산 분광기 (EDS) 챔버는 최적의 성능을 제공합니다. 샘플 챔버에는 스캐닝을 용이하게하기 위해 스테이지 삽입물이 장착되어 있습니다. 이 장치는 0.9 nm 의 이미지 해상도 (image resolution) 와 핵 크기의 대조 (contrast) 를 가지고 있으며, 원자 해상도까지 광범위한 재료의 기능을 분석 할 수 있습니다. 3D 샘플을 생성하는 데에도 사용할 수 있습니다. JSM 6400F 는 사용자 정의가 가능한 도구이며, 사전 선택 방식, 이미지 이동 수정, 자동 초점 (automated focus) 예와 같은 도구를 옵션 기능으로 사용할 수 있습니다. 이 장치는 또한 스택 이미징 분석 및 디지털 카메라 작동이 가능합니다. 데이터 작업 및 디스플레이 기능을 완벽하게 수행할 수 있는 대형 화면 (12.1 인치) 과 컬러 터치 패널 (12.1 인치) 이 있습니다. JSM 6400 F 는 탁월한 이미지 처리 기능과 더불어 포괄적인 문서, 데이터 분석 기능을 제공합니다. 전체 이미지 캡처 및 분석 (analysis) 프로세스는 자동화되며, 전용 소프트웨어 패키지로 다양한 이미지 처리/분석 툴을 사용할 수 있습니다. 예를 들어, ProSpec 이미지 캡처 및 분석 패키지를 사용하면 샘플 이미지를 시각화, 측정, 비교할 수 있습니다.