판매용 중고 JEOL JSM 6400 #9288943
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JEOL JSM 6400은 마이크로 및 나노 스케일 테스트 샘플의 이미징, 분석, 3D 재구성 등 다양한 응용 분야에 사용되는 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 유기 및 무기 물질과 함께 작동하도록 설계되었으며, 뛰어난 선명도, 정확도, 세부적인 고해상도 이미지를 제공합니다. JSM 6400 은 특허 받은 전자 광학 장비 를 사용 하는데, 이 장비 는 전자 빔 을 사용 하여 연구 하는 "샘플 '을 검사 하고 상상 한다. 결과 이미지는 최대 9 nm 측면 해상도 (장치 구성에 따라 다름) 의 인상적인 디테일 레벨을 생성하며 반도체 제작 (semiconductor fabrication) 에서 생명 과학 (life sciences) 에 이르기까지 모든 종류의 연구 영역에 적합합니다. 이 장치에는 질적 및 정량적 원소 분석을위한 에너지 분산 X- 선 (EDX) 검출기, 지형 정보 캡처를위한 2 차 전자 검출기, 깊이 프로파일링을위한 역산 전자 검출기 등 다양한 검출기가 장착되어 있습니다. 이 검출기는 테스트 샘플에 대한 포괄적 인 연구를위한 강력한 조합을 제공합니다. JEOL JSM 6400에는 정교한 3D 이미징 기능을 제공하는 디지털 카메라도 포함되어 있습니다. 이미지 스티칭 (stitching) 기능을 사용하면 샘플의 3D 렌더링을 생성할 수 있으며, 이를 통해 세부적인 내용을 분석할 수 있습니다. 이 디바이스는 다양한 데이터 형식 (data format) 을 지원하므로 다양한 방법으로 검색 결과를 손쉽게 익스포트할 수 있습니다. 마지막으로, 이 장치는 고유한 자동 초점 시스템 (auto-focus system) 을 제공하여 테스트 샘플을 위한 최적의 뷰 위치를 빠르고 정확하게 얻을 수 있습니다. 직관적인 제어 장치를 사용하면 노출 시간 (Exposure Time), 밝기 (Brightness), 확대 (Magnification) 와 같은 매개변수를 빠르고 정확하게 조정하여 원하는 결과를 얻을 수 있습니다. 요약하자면, JSM 6400 은 매우 정확하고 상세한 이미지를 렌더링할 수 있는 고성능 SEM 디바이스를 필요로 하는 모든 연구원이나 실험실 (Lab) 에 적합한 선택입니다. 다양한 탐지기, 정교한 3D 이미징 기능, 자동 초점 머신 (auto-focus machine) 이 이 장치를 재료 과학, 생명 과학, 공학 분야의 다양한 응용 분야에 이상적인 선택으로 만듭니다.
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