판매용 중고 JEOL JSM 6400 #293776081

JEOL JSM 6400은 매우 높은 해상도의 샘플을 분석하는 데 사용되는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 2 차 전자, 역 산란 전자 및 특정 x- 선 스펙트럼을 사용하여 연구 중인 샘플의 자세한 3 차원 이미지를 허용합니다. JSM 6400 (JSM 6400) 은 물체를 x30,000 까지 확대 할 수 있으며, 종종 생물학적 표본을 연구하는 데 사용되며, 이 표본은 높은 배율과 빠른 이미징 기능을 모두 바람직합니다. JEOL JSM 6400은 고유 진공 시스템을 사용하여 샘플을 둘러싸고 전기장 강도를 줄입니다. 이를 통해 현미경은 전례없는 정확도로 샘플 데이터를 감지하고 분석 할 수 있습니다. 조정 가능한 샘플 스테이지, 자동 스캔 (automated scan), 최대 해상도와 선명도를 제공하도록 설계된 in-lens (렌즈) 검출기 등 다양한 고급 기능이 장착되어 있습니다. JSM 6400 에는 민감한 탐지기 (detector) 가 장착되어 있어 기존 SEM 보다 훨씬 높은 해상도로 샘플을 감지할 수 있습니다. 나노 미터 스케일까지 세부 사항을 캡처 할 수 있습니다. 또한 강력한 분석 기능을 제공하며, 요소 구성 및 구조를 감지하고 불순물 (impurities) 이나 결함이 있음을 드러낼 수 있습니다. JEOL JSM 6400은 다양한 샘플 준비 및 이미징 기술을 제공합니다. 자동 (automated) 및 수동 (manual) 샘플 준비와 다양한 이미징 및 분석 모드를 제공합니다. 스캐닝 모드에는 밝고 어두운 장, 2 차 전자 영상 및 조성 요소 분석, 백스캐터 전자 영상이 포함됩니다. JSM 6400은 강력하고 신뢰할 수있는 SEM을 찾는 연구원들에게 훌륭한 선택입니다. 고해상도 (High Resolution) 및 강력한 분석 기능을 통해 일상적인 연구 및 전문 연구 목적에 이상적인 툴이 될 수 있습니다. 다목적 수준의 준비 (Preparation) 및 이미징 (Imaging) 기술을 통해 광범위한 응용이 가능하며 모든 실험실에 귀중한 도구가됩니다.