판매용 중고 JEOL JSM 6390LV #9193088
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판매
ID: 9193088
Scanning electron microscope
Specifications:
Resolution:
HV Mode: 3.0 nm (30kV), 15 nm (1kV)
LV Mode: 4.0 nm (30kV)
Magnification:
8x to 300,000x (at 11kV or higher)
5x to 300,000x (at 10kV or lower)
User operation recipe:
Optics
Specimen stage
Image mode
LV Pressure
Standard recipe
Image mode:
Secondary electron image
Composition
Topography
Shadowed
Accelerating voltage: 0.5 kV to 30 kV
Filament: Factory pre-centered filament
Electron gun:
Fully automated
Manual override
Auto functions:
Focus
Brightness
Contrast
Stigmator
Specimen stage:
Large eucentric type
X: 80mm
Y: 40mm
Z: 5mm to 48mm
Tilt: -10° to +90°
Rotation: 360°
Pumping system:
Fully automated
DP: 1
RP: 1 or 2
Switching vacuum mode: Less than 1 minute
LV Pressure: 1 to 270 Pa
JED-2300 EDS: Built in
Principal options:
Backscattered electron detector
Secondary electron detector for low vacuum
Wave length dispersive X-ray analyzer (WDS)
Specimen exchange airlock chamber
Chamber scope
Operation knobs
Specimen cooling unit
LaB6 electron gun
Report creation software (SMile View)
Operation console (750mm wide, 900mm wide, 1100mm wide)
Computer & peripherals:
HP Z230, CORE E3-1225v3 3.2GHz Processor with 4GB RAM
500GB SATA 1st HDD
16XDVD+/-RW SATA
USB Keyboard & optical mouse
ADAPTEC PCI SCSI 2940AU Host controller
Upgrade: Windows7 OS
19" Flat panel LCD monitor
EDAX EDS Not included
Power:
Single-phase, 100V AC, 50/60Hz
3.0kVA
Voltage regulation within ±10% (voltage drop at 3.0 kVA within 3%).
JEOL JSM 6390LV는 다양한 재료와 표본 너비를 이미징하기 위해 설계된 고해상도 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 큰 수직 기둥과 0.4 나노 미터 해상도까지 샘플의 고해상도 이미징을 위해 독특한 세계 수준의 FEG (field emission gun) 를 결합합니다. 현미경에는 연구원들이 연구를 최대한 활용할 수 있도록 다양한 기능이 포함되어 있습니다 (영문). 이러한 기능 중 일부는 역 산란 전자 (BSE) 이미징, SEI (2 차 전자 가변 강도 이미징), SEVI (2 차 전자 가변 강도 이미징), EDX (에너지 분산 X- 선 분광법), WDS (파장 분산 X- 선 및 eoproscopy) 에 대한 이미징 모드 (AEM). 현미경에는 큰 3 축 조작기가 장착되어 있는데, 이를 통해 SEM 이미징 하에서 표본을 빠르고 정확하게 조작 할 수 있습니다. 또한 자동화된 XYZ 4 축 로봇 표본 처리기를 갖추고 있으며, 이를 통해 연구원은 자동으로 샘플을 교환하고 이미징 위치를 조정할 수 있습니다. JSM 6390LV에는 저진공 cryo-SEM, 저온용 cryo-SEM, 최대 1000 ° C의 고온 SEM과 같은 다양한 환경 옵션도 장착되어 있습니다. 또한, 회절 백스캐터 이온 빔 이미징 (IBI) 은 최대 2nm의 높은 공간 해상도를 특징으로합니다. 이 기능을 통해 연구자들은 다양한 어플리케이션 요구에 대한 다양한 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 기능을 가질 수 있습니다. 마지막으로, 현미경에는 사용자가 제어 할 수있는 업계 최고의 Pure ChromView 소프트웨어가 포함됩니다. 이 소프트웨어를 사용하면 현미경을 편리하고 편리하게 작업할 수 있으며, 단 몇 분 안에 고해상도 (high resolution) 및 비디오 (video) 이미지를 얻을 수 있습니다. 결론적으로, JEOL JSM 6390LV 는 다양한 자동 기능과 함께 다양한 고해상도 이미징 기능을 제공하는 안정적이고 강력한 SEM 시스템을 연구원들에게 제공합니다. 이 현미경은 재료 과학 (materials sciences) 과 나노 기술 (nanotechnology) 에서 산업 공정 제어 (industrial process control) 및 생의학 응용 분야에 이르기까지 다양한 연구에서 사용될 수 있습니다.
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