판매용 중고 JEOL JSM 6390LA #9402534

JEOL JSM 6390LA는 과학계에서 널리 사용되는 최첨단 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 연구와 운영의 유연성을 극대화해 주며, 재료 특성 (material characterization), 장애 분석 (failure analysis), 나노 기술 (nanotechnology) 등 다양한 애플리케이션에 적합합니다. JSM 6390LA는 전자의 열전 방출 (thermal field emission) 과 초저진공 인터페이스 (ultra-low vacuum interface) 를 활용하여 해상도를 높이고 높은 성능을 얻는 필드 방출 SEM입니다. 총 모듈은 콜드 필드 방출 건 (cold field emission gun), 렌즈 내 검출기 (in-lens detector) 및 렌즈 내 2 차 전자 검출기로 구성되며, 응용 분야에 따라 다른 검출기에 대한 옵션이 제공됩니다. 전자 총은 광범위한 전원 공급 장치 및 X-ray 소스를 갖추고 있으며, 다양한 전자 및 X-ray 빔을 활용할 수있는 유연성을 제공합니다. 이 주사 전자 현미경에는 EDS, EELS 및 CL 시스템을 포함한 일련의 분석 시스템이 장착되어 있습니다. 응용 프로그램에 따라 사용자는 세 가지 다른 자동 스테이지 시스템 (수동, 자동 로드/언로드, 자동 스태킹/제거) 중 하나를 선택할 수 있습니다. 이러한 기능을 통해 빠르고 효율적인 샘플 활용이 가능합니다. JEOL JSM 6390LA는 높은 수준의 이미지 선명도와 해상도를 제공하여 나노미터 수준의 이미지를 제공합니다. 동력 확대/축소 기능을 통해 최대 5200배까지 확대할 수 있으며, 512 x 512 픽셀의 고속 반도체 장치를 사용하면 샘플링 시간이 더 빨라집니다. JSM 6390LA는 다양한 작업에 적합한 효율적이고 강력한 SEM입니다. 모듈식 설계 (Modular Design) 와 고급 분석 시스템 (Advanced Analytical Systems) 은 많은 연구 분야에서 귀중한 툴로서, 사용자가 연구 목표를 달성 할 수 있도록 해 줍니다.