판매용 중고 JEOL JSM 6390LA #293609260

JEOL JSM 6390LA는 반도체 고장 분석 및 공정 제어 응용 분야에 사용하도록 특별히 설계된 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 기존 SEM보다 뛰어난 이미징 기능을 제공하는 가변 압력 스캐닝 전자 현미경 (VP-SEM) 입니다. VP-SEM 전자 (VP-SEM electron) 열은 광범위한 작동 조건을 가능하게하여 샘플 충전 (sample charging) 없이 더 높은 조사 깊이와 깨끗한 이미지를 제공합니다. 기본 장비에는 콜드 페그 건 (cold-FEG gun) 과 필드 방출 전자 소스 (field-emission electron source) 가 장착되어 있어 뛰어난 일관성과 빔 안정성을 제공합니다. 이 총은 결과 이미지의 밝기와 해상도를 향상시키는 듀얼 렌즈 (dual-lens) 광학 시스템으로 설계되었습니다. 전자 열을 자동 튜닝하면 간단한 연산 및 사용자 정의 기술을 통해 최적의 결과를 얻을 수 있습니다. JSM 6390LA는 고해상도 저진공 SE (low-vacuum SE) 검출기로 1.3 nm의 향상된 해상도와 최대 10 keV 범위의 감지 한계를 달성 할 수 있습니다. 통합 해상도 교정 장치 (Integrated Resolution calibration unit) 는 샘플을 나노미터 수준으로 분석하는 신뢰할 수 있고 정확한 수단을 제공합니다. 또한 현미경에는 이미징 기능을 강화하기위한 고급 BSE (BackScatter Electron Detector) 및 SE (Secondary Electron Detector) 가 포함됩니다. 작동 측면에서, JEOL JSM 6390LA는 사용하기 쉬운 사용자 인터페이스와 모든 기능에 대한 자동/실무 제어 (옵션) 기능을 제공합니다. SEM (내장 전원) 버튼을 사용하여 SEM 을 수동으로 작동하거나 전원을 켜고 끌 수 있습니다. 다른 유용한 기능으로는 네비게이터 (navigator), 비디오 모니터 (video monitor) 및 정렬 및 교정 중 사용자를 안내하는 조명된 레티클 (reticle) 이 있습니다. 안전 및 보안 향상을 위해 JSM 6390LA는 또한 반전자기 간섭, 전자기 차폐, 정적 방지 코팅 등 다양한 사용자 보호 조치를 제공합니다. 또한, 기계에는 전자 조사로 인한 샘플의 손상을 방지하는 내부 (internal) 및 외부 빔 블랭킹 (external beam blanking) 이미징 기능이 모두 포함되어 있습니다. 전반적으로, JEOL JSM 6390LA는 반도체 고장 분석 및 프로세스 제어를 위해 뛰어난 이미지 품질, 해상도 및 감지 기능을 제공하는 세계적인 스캐닝 전자 현미경입니다. JSM 6390LA (JSM 6390LA) 는 사용이 간편한 제어, 탁월한 최적화 기능, 첨단 안전/보안 조치를 통해 SEM 기술의 여러 이점을 활용하고자 하는 고객에게 이상적인 선택입니다.