판매용 중고 JEOL JSM 6360LA #9410470
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ID: 9410470
빈티지: 2010
Scanning Electron Microscope (SEM)
Computer
Pump
Power transformer
Operating desk
2010 vintage.
JEOL JSM 6360LA는 다양한 표면 물질의 고해상도 이미지를 제공하도록 설계된 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. JSM 6360LA (JSM 6360LA) 는 전자-광학 열을 사용하여 표본에서 전자를 발사하며, 신호 검출기에 의해 반사되고 검출된다. 이 기법 을 사용 하여 현미경 은 "시그널 '탐지기 의 해상도 에 의해서만 제한 된 매우 높은" 디테일' (detail) 도 를 가진 "샘플 '의" 이미지' 를 만들어 낼 수 있다. JOL JSM 6360LA (JOL JSM 6360LA) 의 해상도는 동급에 비해 높으며, 디테일이 풍부한 이미지를 얻을 수 있습니다. 이것은 고유 한 신호 탐지 시스템 때문에, 매우 분화 된 전자 빔을 생성하는 저잡음, 고전달 전자-광학 열을 포함합니다. 기본 모델의 최소 해상도는 3.2nm (JSM 6360LA의 최고 해상도 버전) 은 최대 0.7nm의 해상도를 생성 할 수 있습니다. JEOL JSM 6360LA는 이미징 서피스를위한 다용도 도구입니다. 고배율 표면 이미지, 원소 분석 이미지 (에너지 분산 시스템 사용), 2 차 전자 이미지 등 다양한 이미지를 생성 할 수 있습니다. 또한 서피스 지형 이미지 (surface topography image) 를 생성할 수 있으며, 표본의 표면 구조와 원소 조성을 보여줍니다. 또한, 6360LA는 표본이 상당히 낮은 표본 (종종 나노 앰프의 10 분의 1 범위) 을 이미징 할 수 있으며, 이는 많은 SEM에서 일반적인 문제 인 충전 위험을 제거합니다. JSM 6360LA (JSM 6360LA) 의 또 다른 기능은 이미지 처리 중 전자 빔을 제어 및 모니터링하는 기능 (수동 또는 컴퓨터 프로그램을 통해) 입니다. 이를 통해 이미징 (imaging) 조건을 정확하게 제어할 수 있으며, 최대 해상도를 달성하는 데 도움이 될 수 있습니다. 또한, 6360LA (in-situ observation) 에 6360LA를 사용할 수 있으며, 다양한 분석 기술을 수행하기 위해 다양한 표본 보유자와 호환됩니다. 궁극적으로 JEOL JSM 6360LA는 해상도가 가장 높은 이미징 표면에 대한 강력한 스캐닝 현미경입니다. 전자빔을 모니터링하고 제어하는 능력과 더불어 신호 탐지 시스템 (signal-detection system) 은 매우 다양한 도구다.
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