판매용 중고 JEOL JSM 6360 #293704584

JEOL JSM 6360은 다양한 응용에 대한 고해상도 이미징 및 측정을 제공하기 위해 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 장비는 전자 총 (electron gun) 을 사용하여 샘플을 스캔하여 사용자의 욕구에 따라 회전, 확대, 조작 할 수있는 대화식 이미지를 생성합니다. 전자 총은 직경 3 ~ 4.5nm의 5 나노 암 빔을 생성 할 수 있으며, 이는 높은 배율에서 정밀한 영상을 가능하게합니다. 샘플을 보관하는 데 15mm 샘플 챔버 (15mm sample chamber) 가 사용되며, 최적의 작동 조건을 보장하기 위해 가변 압력 (variable pressure) 과 저진공 (low-vacuum) 기능이 추가로 제공됩니다. JSM 6360은 또한 X- 선 원소 구성, EDS (에너지 분산 X- 선 분광법) 및 2 차 전자 영상 (SEI) 을 포함한 다양한 분석을 특징으로합니다. 이러한 분석은 EDAX의 Genesis X-Ray Analysis Software, Bruker의 X-Flash 5060 Analysis suite 및 JEOL 자체 ViewON Software를 포함한 다양한 소프트웨어 패키지를 사용하여 수행 할 수 있습니다. 이 장치는 또한 고감도 냉장 방출 탐지기 (cold-field emission detector) 를 사용하여 가장 상세하고 생생한 이미지를 생성합니다. 이 검출기는 다양한 각도로 이미지를 캡처하여 이미징 기능의 유연성을 극대화합니다. 또한, 기계에는 사용하기 쉬운 조이스틱 (joystick) 이 장착되어 있으며, 이 조이스틱을 사용하여 빔에 집중하여 이미지를 더욱 향상시킬 수 있습니다. 또한, JEOL JSM 6360은 이동식 샘플 홀더 (removable sample holder), 빔 제어를 위한 직접 액세스 키패드 (direct-access keypad), 추가 분석 수행을 위한 통합 하드웨어 및 소프트웨어 등 다양한 사용자 친화적 기능을 통해 편리하게 사용할 수 있도록 설계되었습니다. 마지막으로, JSM 6360은 뛰어난 구성과 잘 설계된 부품으로 인해 안정성이 높습니다. 자동 초점 (auto-focus) 및 정렬 (alignment) 기능을 통해 이미지를 정확하고 올바르게 정렬하여 최대의 정확도를 보장할 수 있습니다. 요약하자면, 이 SEM은 다양한 샘플의 고해상도 이미징 및 측정을 위한 탁월한 선택입니다.