판매용 중고 JEOL JSM 6340F #9364860

JEOL JSM 6340F는 작고 형태 학적으로 복잡한 구조의 고해상도 이미지를 생성하는 데 사용되는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 0.1 나노미터 (0.1 나노미터) 의 작은 피쳐까지 검출할 수 있으며, 확대할 필요 없이 작은 구조 피쳐를 시각화 할 수 있습니다. 5 밀리암페어 미만의 전류로 전자 빔을 생성 할 수있는 전계 방출 전자 소스 (field emission electron source) 가 특징이며, 높은 해상도와 이미지 안정성을 가진 이미지를 제공합니다. 또한, SEM의 디지털 진공 장비 (digital vacuum equipment) 는 기둥에 명확한 진공을 제공하여 매우 안정적인 이미징 플랫폼을 제공합니다. 인공물 없이 품질 이미지를 얻기 위해 JEOL JSM-6340F는 라이트 블로커 (light blocker) 와 컬럼 내 에너지 필터 (in-column energy filter) 가있는 고급 2 차 전자 검출기를 제공합니다. 광 차단기 (light blocker) 는 외부 광원으로 인한 이미지 왜곡을 줄이는 데 도움이되고, 열 내 에너지 필터는 최적의 전자 에너지 조정을 허용하여 대비를 증가시키기 위해 조정 할 수 있습니다. 따라서 대조 이미지, 특히 작은 기능을 식별할 수 있습니다. 또한 JSM 6340 F의 표본 챔버는 가변 압력 (VP), 저진공 (LV) 및 스캐닝 전송 전자 현미경 (STEM) 모드를 포함한 다양한 시청 모드를 지원합니다. VP 모드는 객체에 대한 충전 효과를 억제하는 반면, LV 모드는 비 전도성 샘플의 이미지를 용이하게합니다. STEM (STEM) 의 경우, 현미경의 수차 보정 된 오브젝티브 렌즈는 샘플 조성을 정량화 할 수 있습니다. JEOL JSM 6340 F에는 열 내 이미징 시스템도 잘 장착되어 있습니다. 이 장치는 샘플 포지셔닝 및 포커싱을위한 열 내 디플렉터 (in-column deflector) 및 스캔 코일 (scan coil) 과 정밀 스캔 단계 (precision scan stage) 로 구성되며 안정적인 표본 장착 및 재생성 가능한 스캔이 가능합니다. 또한, 내장 저 드리프트 진동 격리 기계는 카메라 충격으로 인한 샘플 이미지의 단면 왜곡 및 기울기 (tilting) 를 최소화하기위한 추가 지원을 제공합니다. JEOL JSM-6340 F는 스캐닝 모드 (Scanning Mode) 동안 미세 튜닝을 위한 정밀한 정렬 및 자동 스위핑 모드와 함께 제공됩니다. 정렬 시스템은 최적의 스캔 해상도를 위해 샘플을 정확하고 신속하게 정렬합니다. 또한 이미지 품질과 해상도를 일관되게 유지하는 데 도움이 되는 자동 초점 (auto-focus) 툴도 내장되어 있습니다. 결론적으로, JSM-6340 F는 고급 스캐닝 전자 현미경으로, 낮은 드리프트 및 낮은 노이즈로 고해상도 이미지를 생성 할 수 있습니다. 기능을 강화하는 다양한 기능과 액세서리 (액세서리) 를 갖추고 있으며, 형태적으로 복잡한 구조를 이미징하는 데 이상적입니다.