판매용 중고 JEOL JSM 6340F #145143

JEOL JSM 6340F는 뛰어난 이미징 기능을 제공하는 고성능 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 장비는 재료 과학, 반도체, 나노 기술 및 생물학 연구 분야에서 다양한 응용 분야를 위해 설계되었습니다. JEOL JSM-6340F는 완전 자동화된 소형 열 설계를 특징으로하며 EDX (energy dispersive X-ray spectrometer) 시스템, BSE (backscatter electron) 검출기 및 2 차 전자 (SE) 검출기를 포함한 다양한 검출기를 갖추고 있습니다. 이 SEM에는 최상위 LV (Low-of-the-Line Low-Vacuum) 2 차 전자 영상 장치도 장착되어 있습니다. 완벽한 자동 스캔 제어 (Fully Automated Scan Control) 를 통해 빠르고 안정적인 데이터 입수를 통해 다양한 예제 유형의 고해상도 이미징 (High-Resolution Imaging) 을 구현할 수 있습니다. 고성능 SE 검출기는 높은 배율로 캡처된 이미지의 명암과 선명도를 높입니다. JSM 6340 F (JSM 6340 F) 의 독특한 특징은이 기술이 뛰어난 저진공 2 차 전자 이미징 머신으로, 5 배에서 300,000x까지 광범위한 배율을 제공하여 연구원들에게 다중 스케일에서 샘플을 분석하는 강력한 도구를 제공합니다. 이 도구는 직경이 크고, 배경이 낮은 LV 샘플 초기화 기능, 자동 번역 단계 등 다양한 표본 단계를 제공합니다. JSM 6340F 는 데이터 수집 및 분석 작업을 더욱 간편하고 빠르게 수행할 수 있는 다양한 기능을 제공합니다. 자동 스캔 속도 제어는 정확한 샘플 준비 및 이미징을 보장합니다. 백 스캐터 전자 (BSE) 검출기는 연구원이 샘플의 구성 및 특성을 결정할 수 있도록 도와줍니다. EDX (Energy Distersive X-ray spectrometer) 를 사용하면 알 수없는 샘플 요소를 신속하게 분석하고 원소 분석을 수행 할 수 있습니다. 또한, 자산에는 멀티 스케일 이미징 소프트웨어가 장착되어 있어 사용자가 JEOL JSM 6340 F에서 캡처한 이미지를 손쉽게 조작할 수 있습니다. 이 고급 소프트웨어는 자동 크기 조절, 색상 코딩, 확대/축소 등의 다양한 기능을 제공하여 연구원들이 데이터를 보다 효과적으로 분석할 수 있습니다. 요약하자면, JSM-6340 F 스캐닝 전자 현미경은 광범위한 재료 과학, 반도체, 나노 기술 및 생물학적 연구 응용 분야에 이상적인 도구입니다. 이 자동화된 기기는 5배 ~ 300000배의 다양한 배율로 뛰어난 이미징 기능을 제공합니다. 또한이 모델에는 BSE (backscatter electron) 검출기, EDX (energy dispersive X-ray spectrometer) 장비 및 최고급 저진공 (LV) 2 차 전자 영상 시스템을 포함한 광범위한 검출기가 장착되어 있습니다. 추가 데이터 분석을 용이하게하기 위해 기기는 고급 멀티 스케일 이미징 소프트웨어 (multiscale imaging software) 도 갖추고 있습니다.