판매용 중고 JEOL JSM 6335F #293671409

JEOL JSM 6335F
ID: 293671409
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
JEOL JSM 6335F는 소형 디자인과 고급 이미징 기능을 결합한 데스크탑 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 고품질 이미지의 고해상도를 제공하는 TFEG (Thermionic Field Emission Gun) 열을 사용합니다. 이 SEM은 절연에서 전도성 샘플에 이르기까지 다양한 재료에 사용할 수 있습니다. 2 개의 음극과 2 개의 축 자동 초점 장비를 갖춘 5 채널 입력 단계를 사용하여 높은 성능을 제공합니다. 이 SEM은 또한 고해상도 전자 검출기, 저소음 전원 공급 장치 및 이미지 품질 향상을 위해 질소로 채워진 압력 챔버 (pressure chamber) 를 갖추고 있습니다. SEM의 디지털 신호 프로세서 (Digital Signal Processor) 는 신호 (Signal) 와 랜덤 (Random) 노이즈 사이의 모호성을 줄이고 명확한 이미지를 제공하는 향상된 이미지 형성 및 노이즈 감소 알고리즘을 제공합니다. 또한 JEOL 6335F에는 자동 워크플로로 미리보기 이미지를 볼 수 있는 디지털 로더가 있습니다. 이 장치의 소프트웨어에는 자동 이미지 회전, 대비 조정, 미러 이미징, 치수 측정, 선 선택 등 다양한 이미지 처리 기능이 포함되어 있습니다. 또한 자동 측정 기능 (automated measurement function) 을 통해 운영자는 표본의 크기와 모양에 대한 정보를 얻을 수 있습니다. JEOL 6335F SEM에는 높은 수준의 이미지 최적화를 제공하는 낮은 응력 감지 시스템이 있습니다. 또한 이 장치는 유지 시간 (dwell time) 과 에너지 (energy) 를 자동으로 조정하여 사용자에게 일관된 결과를 제공합니다. 이 기계는 샘플 홀더 (sample holder), 단계 (stage), 목표 (objective) 와 같은 다양한 액세서리를 가지고 있어 다양한 연구 목적에 적합합니다. 또한 SEM 은 사용자 친화적인 인터페이스로 설계되어 정보를 손쉽게 수집할 수 있습니다. 전반적으로, JSM 6335F는 신뢰할 수 있고 정확한 스캐닝 전자 현미경으로, 뛰어난 화질과 다양한 기능을 제공합니다. 신뢰할 수 있는 성능, 컴팩트한 디자인, 사용자 친화적 기능을 통해 다양한 자료 연구 응용프로그램에 이상적인 선택이 됩니다 (영문).
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