판매용 중고 JEOL JSM 6330F #293761295

JEOL JSM 6330F는 다양한 과학 및 산업 분야에서 사용되는 고급 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 고해상도 이미징, 일류 분석 성능, 정교한 이미징 기능의 탁월한 조합이 특징입니다. JEOL JSM-6330F (JOL JSM-6330F) 는 시장에서 사용 가능한 모든 SEM 중 가장 높은 해상도를 자랑하며, 많은 대학 및 연구 센터에서 널리 사용되는 제품입니다. 새로운 성능 향상 (Performance Enhancing) 옵티컬 장비를 통합하여 확장성이 높아지고 작업 거리가 짧아집니다. 이렇게 하면 공간 해상도 (spatial resolution) 와 대조 (contrast) 를 최대화하여 작은 표본의 세부 사항을 보다 효과적으로 볼 수 있습니다. JSM 6330 F는 울트라 하이 해상도 필드 방출 건으로 금속, 반도체 등 다양한 샘플의 고품질, 정확한 이미지를 생성합니다. 이것은 낮은 수차 (LA) 광학에 의해 가능하며, 이는 구형 수차 및 이미지 왜곡을 효과적으로 줄입니다. 또한, SEM에는 초저배경 노이즈 (ultra-low background noise) 가 장착되어 있어 이미지 대비를 강화하여 사용자가 가장 작은 기능을 관찰 할 수 있습니다. 이 시스템은 혁신적인 전자 배경 제거 (electron background elimination) 기술을 사용하여 신호 품질을 유지하면서 이미지 노이즈를 99% 이상 줄입니다. 원소 농도를 0.03% 에서 측정 할 수 있으므로 X-Ray 매핑 및 분석에 더 뛰어난 능력을 제공합니다. 최적의 이미징을 위해, 이 장치는 또한 인상적인 표본 드리프트 보상 메커니즘과 강력한 광축 안정화 기계 (optical axis stabilization machine) 를 갖추고 있습니다. 이렇게 하면 시편이 아무리 이동해도, 모든 이미지가 정확하고 깨끗하게 유지됩니다. 기계적 진동을 최소화함으로써, 표본의 세부 사항을 정확하게 포착합니다. JSM 6330F 는 또한 뛰어난 사용자 안전 (User Safety) 및 환경 친화력 (Environmental Friendliness) 기능을 제공하여 모든 측정 및 관찰이 안전하고 책임있는 방식으로 수행되도록 합니다. 통합 진공 장치 (Vacuum Unit) 는 전자 빔이 통과하는 고전압 챔버 (High-Voltage Chamber) 가 외부 환경에서 완전히 차폐되도록 함으로써 사용자 안전을 향상시킵니다. 또한 최소 양의 유지 보수, 시간 및 자원 절약 (SLA) 을 통해 작업을 수행할 수 있습니다. 전반적으로, JSM-6330F는 다양한 실험실 응용 프로그램에 탁월한 성능을 제공하는 매우 향상된 SEM 자산입니다. 모든 분야의 연구원에게 완벽한 툴이 될 수 있도록 하는 다양한 '기능' 과 '기능' 이 있습니다.