판매용 중고 JEOL JSM 6320F #9232338

JEOL JSM 6320F는 많은 유형의 샘플의 고해상도 이미징에 사용할 수있는 SEM (field-emission scanning electron microscope) 입니다. 이미징을위한 고효율 FEG (field-emission gun) 와 디지털 인컬럼 (digital in-column) 검출기가 장착되어 있으며, 광범위한 컨트롤을 통해 정확한 스캔 및 이미징이 가능합니다. JSM 6320F 는 최대 2.5 nm 의 해상도로 매우 상세한 이미지를 생성할 수 있으며, 가변 압력 시스템 (Variable Pressure System) 은 최소/없음 샘플 준비로 비 전도성 샘플을 관찰 할 수 있습니다. JEOL JSM 6320F는 1 kV ~ 30 kV 범위의 가속 전압을 가지며, 높은 배율에서도 저소음 이미징으로 안정적이고 균일 한 빔을 생성 할 수 있습니다. 현미경의 열 내 에너지 분산 분광기 (EDS) 는 빛 요소의 감지 및 분석을 허용하는 반면, 자동 탐색 시스템은 표본 정렬을 통해 사용자를 안내합니다. 기울기 안정화 (tilt stabilization) 및 이미지 스티칭 (image stitching) 과 같은 자동화된 기능은 샘플을 완전히 특성화하는 데 걸리는 시간을 줄입니다. JSM 6320F (JSM 6320F) 는 유연하고, 잘 켜진 광학 기둥과, 정밀한 탐색을 보장하고 샘플 드리프트를 방지하는 인체 공학적으로 설계된 공기 균형 단계를 포함하는 독특한 설계입니다. 손쉽게 사용자 정의할 수 있는 이미징 구성을 통해 다양한 자재 (material) 와 다양한 배율로 세부 이미지를 생성할 수 있습니다. 또한, 현미경은 microanalysis, cast plate analysis, microprobing 및 particle size 분석과 같은 응용 분야에 적합합니다. JEOL JSM 6320F 는 다양한 샘플을 고해상도 이미징할 수 있도록 설계된 포괄적인 툴입니다. 현미경은 '현장 방출 (field-emission)' 기술과 '종합적인 이미징 (imaging) 기능' 에 대한 첨단 투자를 통해 효율적으로 샘플을 분석할 수 있는 탁월한 해상도와 제어 기능을 제공합니다.