판매용 중고 JEOL JSM 6320F #9210344

JEOL JSM 6320F는 재료 분석에 사용되는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 그것은 sub-micron to macroscopic 기능을 분석하기위한 산업 표준 마이크로 이미징 및 microanalytical 시스템입니다. 모공, 곡물 경계 등 샘플의 고급 기능을 최대 0.06nm 해상도로 시각화할 수 있으며 통계적 이미징, 분석 정보, 3D 모델링 등을 제공합니다. JSM 6320F에는 전자광학 (Electron Optic) 과 고급 탐지기 (Advanced Detector) 가 장착되어 있어 분석 성능을 극대화할 수 있습니다. 6320F의 이미징 기능은 곡물 크기 및 방향, 표면 거칠기, 현미경 및 더 많은 응용 프로그램을 분석하는 데 사용될 수 있습니다. 환형 시야각 SEM 이미징을 통해, JEOL JSM 6320F는 넓은 심도, 고해상도 이미지, 향상된 시야의 조합을 제공합니다. 6320F의 분석 기능에는 EDS (energy dispersive x-ray spectroscopy) 가 포함되며, 이를 통해 사용자는 샘플의 원소 구성을 분석 할 수 있습니다. 또한, JSM 6320F의 높은 진공 및 저전압 전자 환경 (High Voltage Electron Environment) 은 무거운 샘플 준비 없이도 고품질의 샘플 이미지를 제공합니다. JEOL JSM 6320F는 야금, 자동차, 전자 제품, 식품 등 다양한 산업에 적합합니다. 6320F는 사용자에게 Windows XP 및 Windows Vista 운영 체제에서 지원되는 간단한 작업을 제공합니다. 6320F 의 용량은 최대 2 개의 샘플과 5 개의 탐지기 (detector) 로, 광범위한 샘플 유형을 분석할 수 있습니다. 요약하면, JSM 6320F는 재료 분석에 사용되는 산업 표준 주사 전자 현미경입니다. 최대 0.06nm 해상도로 샘플의 고급 기능을 시각화할 수 있으며, 통계적 이미징, 분석 정보, 3D 모델링 등을 제공합니다. 사용자는 6320F (6320F) 를 통해 간단한 작업과 다양한 샘플 유형을 분석할 수 있습니다. 이 현미경은 광범위한 산업에 적합하여 재료 (materials) 분석을위한 강력한 도구입니다.