판매용 중고 JEOL JSM 6320F #9144812

JEOL JSM 6320F는 강력하고 다재다능한 주사 전자 현미경 (SEM) 으로, 다양한 측정 및 영상 기술이 가능합니다. JSM 6320F (JSM 6320F) 는 최대 가속 전압 30kV의 전자 열을 사용하여 생물학적 표본에서 반도체에 이르는 다양한 연구에 이상적입니다. 이 기둥에는 렌즈 내 2 차 전자 탐지기 (in-lens secondary electron detector) 가 장착되어 표본의 고성능 영상을 제공합니다. 2 차 전자 검출기는 구덩이, 입자, 전자 빔 유도 손상과 같은 표면 특징을 구별하고 강조 할 수 있습니다. 열 내 에버 하이 챔버 (Everhigh chamber) 는 챔버의 빠른 대피 및 후속 이미지의 해상도 개선을위한 가장 높은 진공 수준을 제공합니다. 풍선 도어 벨로우 시스템 (inflatable door bellows system) 도 챔버 내에서 최적의 압력 수준을 보장하기 위해 사용됩니다. SEM의 Hi-bright 시스템은 최대 3개의 오브젝트에 대해 동시에 높은 밝기 조명을 제공하며, 신틸레이터 (scintillator) 기반 반사 방지 (anti-reflection) 화면을 사용하여 이미지 획득에 존재하는 배경 노이즈의 양을 줄입니다. 미세 표면 피쳐의 최적의 시각화를 위해 동시 밝기/어두운 필드 이미징을 사용할 수도 있습니다. 이 기기는 또한 다양한 저전압 이미징 (LVI) 모드를 만들 수 있습니다. LVI 이미징은 저전압에서 유기 표본을 영상화하고, 빔 손상을 최소화하기에 적합합니다. 이 기술을 통해 명암비 (contrast) 와 해상도 (resolution) 를 개선하고, 정규 2 차 전자 이미징에서 볼 수없는 정보를 얻을 수 있습니다. 현미경은 표본에서 재료의 in-situ 구성 분석 방법 인 EDS (energy dispersive spectroscopy) 와 같은 다양한 특수 측정 기술을 사용할 수 있습니다. 이 기술은 재료 특성화 및 식별에 필수적입니다. 또한 JEOL JSM 6320F 는 최적의 이미징 조건에서 표본의 정확한 위치를 지정할 수 있는 자동 (automatic) 단계를 지원합니다. 스테이지 설정은 360도 회전, 경사진 보기 설정, 횡단면 이미징 (cross sectional imaging) 등 SEM 뷰를 쉽게 표현할 수 있습니다. 결론적으로, JSM 6320F는 강력하고 다목적 스캐닝 전자 현미경으로, 다양한 이미징 및 측정 기술을 할 수 있습니다. 우수한 진공 및 조명 시스템은 다양한 어플리케이션에 탁월한 성능을 제공합니다.