판매용 중고 JEOL JSM 6300F #9224609
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JEOL JSM 6300F는 다양한 기능과 기능을 갖춘 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 다양한 모드와 대화형 기능 (interactive function) 을 통해 다양한 크기와 모양의 재료를 분석하는 데 사용할 수 있습니다. 현미경은 더 높은 해상도와 초고진공 (UHV) 성능을 제공합니다. JSM 6300F에는 냉장 방출 건 유형 열방출 전압 (1.2kV) 과 핫 필드 방출 건 유형 열 방출 전압 (1.3kV) 을 갖는 FEG (field emission gun) 가 장착되어 있습니다. 이 현미경은 또한 트윈 xy 틸팅 및 스캔 단계를 특징으로하며, 빠르고 효율적인 이미지 획득이 가능합니다. 진공 챔버 (vacuum chamber) 에는 통합 자동 레벨 링 시스템이 장착되어 있으며, 샘플은 개폐식 샘플 홀더에 배치됩니다. JEOL JSM 6300F는 기존 SEM, High Vacuum (HV) SE, Low Voltage SE 및 BSE (backscattered electron) 이미징을 포함한 다양한 감지 모드를 제공합니다. 또한 EDS, X-ray 맵, 이온 밀링, 물 몰입 이미징, 평균, 소음 제거, 광학 보정 등의 통합 이미지 처리 기능과 같은 다양한 시각화 및 분석 기능을 제공합니다. 현미경은 Windows 및 Mac 운영 체제와 호환되며, 사용자가 데이터를 완벽하게 제어할 수 있는 번들 (Bundled) 소프트웨어와 함께 제공됩니다. JSM 6300F에는 개폐식 Live SEM 작업 챔버가 장착되어 있어 사용자가 건조 및 현장 실험을 모두 수행 할 수 있습니다. 전반적으로 JEOL JSM 6300F는 사용자가 이미징 및 분석 기능에서 향상된 해상도와 정밀도를 제공합니다. 직관적인 운영을 자랑하여 사용자가 SEM 실험을 빠르고 효율적으로 수행 할 수 있습니다. JSM 6300F 는 종합적인 데이터 조작 도구, 고해상도 이미징 (high resolution imaging), 다양한 운영 체제 호환성을 통해 광범위한 연구/교육 응용프로그램을 위한 이상적인 스캐닝 전자 현미경입니다.
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