판매용 중고 JEOL JSM 6300F #116159

JEOL JSM 6300F는 하부 나노 미터 해상도에서 고성능 이미징을 위해 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. SEM (Scanning Electron Microscopy) 및 TEM (Transmission Electron Microscopy) 응용 모두에서 매우 높은 해상도를 가지고 있습니다. JSM 6300F 의 강력하고 다양한 설계로 처리량, 비용, 정확도가 높은 고속 이미징 기능을 제공합니다. JEOL JSM 6300F에는 초고해상도 필드 방출 건 (FEG), 큰 극 조각이있는 대형 챔버, 고성능 전자 광학 시스템이 장착되어 있습니다. 현재 (Beam Current) 및 작업 거리 (Working Distance) 옵션을 통해 사용자는 원하는 이미징 목표를 목표로 삼을 수 있습니다. 이 현미경에는 EDAX (Energy Dispersive Analysis X-ray), 자동 탐색 및 정렬, 샘플 준비를위한 자동 단계 및 통합 이미징을위한 멀티 빔 감지 시스템이 포함 된 고급 기능도 포함됩니다. 큰 챔버와 개선 된 극 조각은 JSM 6300F (JSM 6300F) 가 더 적은 왜곡으로 더 큰 필드 깊이와 더 높은 해상도를 달성 할 수 있습니다. 살아있는 세포, 비 살아있는 물질, 부드럽고 단단한 재료, 나노 입자 등 다양한 샘플을 이미징 할 수 있습니다. 샘플 조작 및 자동 정렬 (auto-alignment) 기능은 매우 낮은 배율에서도 쉽고 정확한 이미징을 가능하게 합니다. JEOL JSM 6300F는 이미지 처리, 분석 및 자동화 분야에서 가장 뛰어난 유연성과 성능을 제공합니다. 고해상도 (High Resolution) 를 달성하는 높은 처리량과 능력으로 인해 작은 구조를 이미지화하고 재료 조성을 분석하려는 연구원들에게는 실행 가능한 옵션이되었습니다. 통합 전자 광학 시스템 (Integrated Electron Optical System) 을 사용하면 빔 전류 (Beam Current), 각도 (Angle) 및 작업 거리를 조정하여 원하는 이미지의 해상도를 극대화하여 세밀한 세부 사항과 미세 구조를 관찰할 수 있습니다. 자동화 된 기능, 분석 기능 및 다양한 샘플 조작 옵션을 통해이 SEM은 다양한 연구 응용프로그램에 적합한 선택입니다.