판매용 중고 JEOL JSM 6300 #9314149

JEOL JSM 6300은 고해상도 이미징 및 분석 응용 프로그램을 위해 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 기존의 광학 현미경과 비교할 때 뛰어난 화질과 공간 해상도 (spatial resolution) 를 제공할 수 있습니다. JEOL JSM-6300은 픽셀 크기가 25.4cm 인 17.0cm x 11.5cm 2 차 전자 검출기와 픽셀 크기가 9.2cm인 4.2cm x 4.2cm 백스캐터 전자 검출기를 갖추고 있습니다. 이 시스템에는 저소음 UHV 샘플 홀더가 장착 된 UHV (Ultra-High Vacuum) 스테이지가 장착되어 있어 오염없이 건조 및 습식 샘플을 이미징 및 분석할 수 있습니다. 또한, 이 시스템은 넓은 깊이 (depth of field) 이미징을 생성할 수 있으며, 이를 통해 넓은 표면 영역에 대한 자세한 이미지를 얻을 수 있습니다. JSM 6300은 이미징 및 분석 기능 외에도 e-line 및 WDS (wavelength dispersive x-ray spectroscopy) 를 포함한 다양한 유형의 분광법을 갖추고 있습니다. 전자 선 분광법은 샘플에서 방출 된 특정 x- 선 (x-ray line) 의 에너지를 측정하여 원소 분석에 사용됩니다. WDS는 여러 개의 x- 선 (x-ray line) 을 사용하여 원소 조성과 분포를 모두 측정하여 표면 분석에 사용됩니다. JSM-6300에는 또한 저전압 전자 건 인 일체형 e-gun (일체형 e-gun) 이 포함되어 있으며, 초저전압 배경 노이즈 및 확장 작동 매개변수를 제공하도록 설계되었습니다. 이렇게 하면 넓은 표면 영역보다 균일성이 뛰어난 고대비 이미지를 얻을 수 있습니다. JEOL JSM 6300은 강력한 스캐닝 전자 현미경으로, 뛰어난 이미지 품질, 해상도 및 분석 기능을 제공합니다. 반도체· 재료과학연구· 야금· 고장 분석· 생명과학 등 다양한 응용에 적합하다.