판매용 중고 JEOL JSM 6300 #293777677

JEOL JSM 6300 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 은 광범위한 과학 분석 및 연구에 사용되는 다재다능하고 강력한 이미징 도구입니다. 이 고해상도 기구 (high-resolution instrument) 는 전자를 사용하여 표준 광학 현미경이 생성 할 수있는 것보다 훨씬 더 세밀한 표면 및 물체의 상세한 이미지를 얻습니다. JEOL JSM-6300은 최소 0.9 나노 미터 (1 미터의 10 억 분의 1) 의 해상도를 가진 넓은 영역을 정확하게 "스캔" 할 수 있으며, 견본에 대한 전례없는 수준의 세부 사항과 통찰력을 제공합니다. 또한 JSM 6300은 내장 고속 백스캐터링 전자 검출기를 사용하여 2 ~ 20 마이크로 미터 (um) 의 필드 깊이를 가진 대형 샘플의 이미징을 사용할 수 있습니다. 샘플 특성화 및 분석을 위해 JSM-6300 은 다양한 기능과 액세서리를 제공합니다. 여기에는 고해상도 STEM 검출기, 에너지 분산 X- 선 검출기 (EDX), 전자 백스캐터 회절 (EBSD) 및 다양한 SEM 액세서리가 포함됩니다. 현미경의 이중 기능 Princeton Instruments CCD 검출기는 광전자와 역산포 전자를 모두 기록 할 수 있으며, COD (Contrast-of-Detail) 및 지형 대비를 제공하는 이미지를 산출합니다. 또한 CCD 카메라를 통해 사용 가능한 세부 대비를 증가시키는 Z 대비 모드도 포함되어 있습니다. JEOL JSM 6300은 매우 자동화되어 까다로운 연구 시나리오에 적합합니다. 자동 초점 및 내장 자동 정렬 기능은 이미지 처리 속도를 높여 샘플 (sample) 기능을 빠르고 정확하게 이미징할 수 있습니다. 이 현미경은 고품질 멀티 채널 라이브 이미징 (Multi-Channel Live Imaging) 을 특징으로, 이미지 캡처 창을 벗어나지 않고 문제 해결 및 분석을 수행할 수 있습니다. 현미경은 1X에서 20,000X까지 광범위한 확대 값을 생성 할 수 있습니다. 이를 통해 연구원은 매우 작은 특징과 넓은 영역에 대한 자세한 이미지를 생성 할 수 있습니다. 현미경은 최대 2000mm x 2000mm (2000mm x 2000mm) 의 샘플의 넓은 영역을 스캔할 수 있으므로 큰 샘플의 훌륭한 범위가 가능합니다. 마지막으로 JEOL JSM-6300에는 직관적이고 사용자 친화적 인 인터페이스가 장착되어 있습니다. 이 소프트웨어에는 다양한 대화형 도구 (Interactive Tools) 와 사용자를 안내하는 자습서 (Tutorial) 가 포함되어 있으므로 이미지 처리 및 분석 작업을 빠르고 정확하게 수행할 수 있습니다. 이렇게 하면 워크플로우가 단순화되고, 사용자의 현미경 이해가 향상되어, 생산성이 향상됩니다.