판매용 중고 JEOL JSM 6300 #293750615

JEOL JSM 6300은 SEM (State-of-Art Scanning Electron Microscope) 으로 사용자에게 이미징 및 분석 기능을위한 최고의 해상도를 제공합니다. 최대 5nm (초고해상도) 이미징을 위한 초고화질 (UHV) 챔버가 장착된 JEOL JSM-6300에는 작업 수행에 필요한 내장 기능과 정밀 도구가 장착되어 있습니다. 렌즈 내 2 차 전자 검출기가 장착 된 FEG (Field Emission Gun) 는 매우 낮은 전자 빔 전류를 생성하여 사용자가 샘플 파괴 속도가 낮은 매우 고해상도 이미지를 생성 할 수 있습니다. 렌즈 내 (in-lens) 검출기는 처리량이 높고 챔버 배경 (chamber background) 이 낮아 검사 중인 샘플에 대한 더 깊은 통찰력을 제공합니다. JSM 6300 SEM에는 낮은 배율과 고해상도 이미지를 모두 캡처하는 CCD (High Quality Charged Coupled Device) 카메라가 포함되어 있습니다. CCD 카메라는 표본 챔버의 검출기에 직접 연결되어 최대 7000 배율을 제공합니다. JSM-6300에는 샘플의 원소 분석을 제공 할 수있는 EDS (에너지 분산 분광계) 검출기도 포함되어 있습니다. 이 검출기는 SEM 에 통합되어, 고해상도를 가진 샘플 내의 요소를 식별하고 매핑할 수 있게 해 줍니다. 또한 JEOL JSM 6300 (JOL JSM 6300) 에는 챔버 주변에서 샘플을 이동하는 데 사용할 수 있는 자동 단계 (automated stage) 가 포함되어 있으므로 샘플 위치를 수동으로 조정하지 않고도 샘플의 여러 영역을 이미지화할 수 있습니다. 또한, 스테이지 (stage) 를 프로그래밍하여 표면의 추적 및 선 스캔을 수행할 수 있습니다. JEOL JSM-6300 (JOL JSM-6300) 에 내장된 기능을 조합하면 샘플의 고해상도 이미징을 생성하고 샘플의 정확한 분석을 수행할 수 있습니다. JSM 6300 은 나노 배율 (nano-scale resolution) 에서 샘플을 이미징 및 분석할 수 있는 기능으로, 고급 현미경 및 원소 분석에 이상적인 도구입니다.