판매용 중고 JEOL JSM 6100 #9239600

JEOL JSM 6100은 뛰어난 이미징 성능과 정확한 샘플 분석을 위해 설계된 가장 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 중 하나입니다. 원자 수준까지 2 차 전자를 감지 할 수있는 전장 방출 유형 (field-emission type electron source) 과 새로 설계된 트윈 렌즈 (twin-lens) 광학 장비를 사용합니다. JSM 6100은 최대 300,000 배, 스캔 해상도는 20nm, Z축 해상도는 0.1nm입니다. 고속 스캔 시스템 (High-Speed Scan System) 을 통해 표본을 신속하게 이미징하여 정확한 데이터를 신속하게 제공할 수 있습니다. 이미지 스티칭 기능 (image stitching function) 은 생성된 이미지가 가능한 최고 품질의 이미지를 보장하는 반면, 내장 EDX 감지기 (detector) 를 사용하면 스캔된 샘플에 대한 정확한 요소 분석을 얻을 수 있습니다. JEOL JSM 6100 (JOL JSM 6100) 은 사용자에게 SEM 작동과 설정이 간편한 운영 모드를 제공합니다. 스캔 매개 변수는 디바이스에 사전 설정될 수 있으며, 여러 보기 모드에서는 샘플 이미지를 실시간으로 관찰, 분석할 수 있습니다. 디지털 카메라는 마이크로스코프 (microscope) 에 내장되어 있어 고해상도 디지털 이미지를 쉽게 캡처할 수 있고, 컴퓨터로 쉽게 결과를 공유할 수 있습니다. JSM 6100은 이미지 처리 및 분석 프로세스를 간소화하는 여러 가지 자동 기능을 제공합니다. 자동 표본 체크 아웃 (checkout) 장치는 표본이 스캔을 위해 제대로 준비되고 마운트되도록 합니다. 포커스 머신 (focus machine) 은 샘플 서피스를 자동으로 감지하고 필요한 설정을 조정하여 수동 미세 조정 (fine-tuning) 을 수행할 필요가 없습니다. 자동 스캔 영역 크기 및 모양 선택 도구 (automatic scan area size and shape selection tool) 도 현미경으로 통합되어 다양한 스캔 크기를 쉽게 선택할 수 있습니다. JEOL JSM 6100 은 사용 가능한 가장 강력한 SEM 중 하나로, 높은 수준의 이미징 성능과 자동화된 운영을 제공합니다. 원자 수준에서 샘플의 고해상도 이미지를 생성 할 수있는 반면, EDX 검출기를 통해 정확한 원소 분석을 제공 할 수 있습니다. 능률적인 자동화된 시스템은 스캐닝 (Scanning) 프로세스의 속도를 높여 초보자 사용자조차도 빠르고 쉽게 뛰어난 결과를 얻을 수 있습니다.