판매용 중고 JEOL JSM 6100 #9219588

JEOL JSM 6100 (JEOL JSM 6100) 은 저배율과 고배율로 재료의 고해상도 이미징을 위해 설계된 주사 전자 현미경 (SEM) 의 한 유형입니다. 이 강력한 분석 도구는 매우 높은 해상도의 이미징 (Imaging), 뛰어난 심도 (Depth of Field) 및 고감도 (High-Sensitivity) 요소 감지 기능의 뛰어난 조합과 다양한 표본 크기 및 모양 호환성을 결합합니다. 이 기기는 가변 압력 주사 전자 현미경과 초고해상도 렌즈 시스템을 결합합니다. 전자 총에는 저 진공 열성 필라멘트가 장착되어 있으며, 0.2 nm의 1 차 전자 빔 두께를 제공합니다. 이 높은 정밀도를 통해 JEOL-JSM 6100은 고해상도 이미징 및 표면 분석이 필요한 어플리케이션에 완벽하게 적합합니다. 고유 한 진공 펌핑 시스템을 초저압 (ultra-low pressure) 으로 대피시켜 고품질 SE (secondary electron) 이미지의 생산을 크게 향상시킵니다. 2 차 전자 검출기에는 가변 스캔 속도 (variable scan rate) 와 동적 조리개 (dynamic aperture) 가 장착되어 이미징 품질과 유연성을 더욱 향상시킵니다. 고급 SE 검출기는 최대 4 개의 검출기를 특징으로하며, 각각 30 만 번 확대될 때 5 또는 10 유로의 시야를 갖습니다. 이를 통해 다중 에너지 이미징 및 전자 빔 리소그래피 (electron-beam lithography) 와 같은 고급 응용 프로그램을 위해 여러 채널에서 동시 SE 이미징이 가능합니다. 또한 JEOL-JEOL JSM 6100에는 백스캐터 전자 검출기 (옵션) 가 장착되어 있어 ESEM (환경 SEM) 모드에 사용할 수 있습니다. 높은 정밀도 이미징 기능 외에도 JEOL-JSM 6100 은 에너지 분산 X 선 분광법, 카토돌루미네센스 (Cathodoluminescence) 등 다양한 표준 및 옵션 분석 기능도 지원합니다. 고해상도 이미징, 뛰어난 심도, 다양한 분석 기능을 갖춘 JEOL-JEOL JSM 6100은 강력한 재료 검사 및 특성화에 적합합니다.