판매용 중고 JEOL JSM 6010 Plus/LA #9284891

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ID: 9284891
Scanning Electron Microscope (SEM) Main breaker: 15 AT. MP-60110LAB ULVAC G-100DB Vacuum pump Ultimate press: 6.7 x 10^-2 PA Oil capacity: 800 ml AETFL64PHOO1 Vacuum pump motor Power supply: 100 V, 50/60 Hz Pumping speed: 50 Hz 100 l/min 60 Hz 120 l/min Capacitor: Start rating: 51, 250 µF Running: 32 µF Capacitor motor thermal: 1 Phase JEC-2137 IP44 1C411 6203 / 6202 Bearing PSE IME: R/MIN: 1450, 4 Pole, 60 Hz, 100 V, 5.3 A R/MIN: 1745 X69001 Power supply: 0.4 kW, 50 Hz, 100 V, 6.1 A ULVAC OMT-100A Oil mist trap Maximum flow rate: 120 l/min MP-01060MS Tilt limitation table X/Y-Axis Z Holder: 10 mm, 32 mm, 76 mm 8 mm: 10 mm: 0-20 deg 32 mm: 0-20 deg 76 mm: 0-20 deg 10 mm: 10 mm: -2-30 deg 32 mm: -2-30 deg 76 mm: 0-20 deg 15 mm: 10 mm: -10-35 deg 32 mm: -10-35 deg 76 mm: -2-35 deg 20 mm: 10 mm. -10-35 deg 32 mm. -10-35 deg 76 mm. -10-35 deg Dial reading: -10° - 90° X-Ray microanalysis P13333B-NAV Camera DELL Optiplex 7010 CPU Tower With PXL2230MW Planar Monitor P/N: 997-7039-00 DELL KB212-2 CN-04G481-71616 43B-006U-A00 DP/ N 04G481 Keyboard DELL D PPID-CN-09RRC7-48729-45L-09FU Mouse Accessories and manuals Power supply: 100-240 V, 60/50 Hz, 0.7 A Power supply: 100 V, 12 A, 1.2 kVA, 1 Phase, 50/60 Hz.
JEOL JSM 6010 Plus/LA는 실험실 및 산업 응용을위한 다목적 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. SEM은 전자원으로 우수한 품질의 FEG (field emission gun) 를 사용하여 x10과 x600,000 사이의 확대율로 고해상도 이미지를 생성하며, 배율은 x500에서 x150.000입니다. 작업 챔버 (Work Chamber) 에는 진공 상태에서 샘플을 조작하여 다양한 재료를 측정, 검사 및 분석 할 수있는 6 축 동력 샘플 단계 (6 축) 를 포함한 다양한 보조 장비가 장착되어 있습니다. JSM 6010 Plus/LA의 스캐닝 전자 빔 (scanning electron beam) 은 샘플 표면을 빠르게 스캔하고 2 차 전자를 수집하여 작동하며, 고품질 디지털 이미지 디스플레이로 변환됩니다. 전자 스팟 크기의 지속적인 조정, 조정 가능한 전류, 낙인 찍기 및 전압 (voltage) 과 같은 기능은 FEG의 저전압 성능 및 고에너지 빔과 결합하여 SEM 이미징 기능을 향상시킵니다. JSM 6010 Plus/LA는 다양한 검출기 (detector) 및 검출기 (detector) 적응을 사용하여 다양한 이미징 기술에 대한 이미징 매개변수를 수정할 수 있습니다. 2 차 전자 검출기 (SED) 는 다른 유형의 물질을 구별 할 수있는 2 차 전자 응집 이미지를 제공합니다. 에너지 분산 분광법 시스템 (EDS) 또는 파장 분산 분광법 (WDS) 시스템과 같은 분석 검출기를 사용하여 에너지 분산 X- 선 측정 및 원소 분석을 허용할 수 있습니다. JSM 6010 플러스/LA (JSM 6010 Plus/LA) 는 또한 스퍼터 시스템 (sputter system) 을 호스팅하여 매우 연약한 샘플을 심층적으로 분석하여 샘플의 화학적 구성에 대한 풍부한 정보를 제공합니다. 또한 JSM 6010 Plus/LA (JSM 6010 Plus/LA) 는 여러 이미지 조작 옵션과 다양한 파일 형식으로 데이터를 내보낼 수 있는 기능을 제공합니다. 다양한 레이어 이미지와 컴포지트를 만들 수 있으며, 데이터를 사용하여 3D 이미지를 생성할 수 있습니다. 다양한 기능, 저전력 요구 사항, 자동 정렬, 안정적인 제어 소프트웨어 덕분에 JSM 6010 Plus/LA는 탁월한 수준의 제어, 정확성, 속도를 지닌 다양한 실험실/산업용 어플리케이션에 탁월한 성능을 제공합니다.
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