판매용 중고 JEOL JSM 5900LV #293600373
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ID: 293600373
빈티지: 1999
Scanning Electron Microscope (SEM)
PGT Avalon EDS system
XPJ081-1038 Detector
AVALON PGT Controller
1999 vintage.
JEOL JSM 5900LV는 최첨단 전자 광학과 정교한 이미징 기술로 설계된 업계 수준의 스캐닝 전자 현미경입니다. 고성능, 다용도, 종합적인 스캐닝 (scanning) 기능을 통해 나노미터 해상도의 재료 특성화 및 이미징에 이상적입니다. JEOL JSM-5900LV는 가변 압력 전자 열 (variable-pressure electron column) 을 사용하여 비전도 물질 및 금속을 포함한 다양한 샘플에서 가장 높은 이미지 해상도와 대조를 이룹니다. 고급 건 렌즈는 전자 산란을 제어하고 빔 모양 아티팩트를 최소화하는 데 도움이됩니다. 이를 통해 현미경은 모든 방향으로 스캔 된 물체의 명확하고 고해상도 2 차원 이미지를 제공 할 수 있습니다. JSM 5900 LV는 또한 스캐닝 중 가시광선 및 적외선 방출을 감지하는 고급 카토 돌루미네 센서 (cathodoluminescence detector) 를 특징으로합니다. 이 기능은 뛰어난 감도, 해상도, 감지 범위 (Detection Range) 를 제공하여 사용자가 다양한 재료의 미묘한 전자기 반응을 쉽게 식별할 수 있도록 하며, 사용자가 자신의 구성을 결정할 수 있도록 도와줍니다. JSM 5900LV에는 EDS (Adjustable Energy Dispersive Spectrometry) 기능도 있어 샘플에서 여러 요소를 신속하게 식별하고 분석 할 수 있습니다. 이 강력한 도구는 또한 에너지 필터링 이미징 (energy-filtered imaging) 과 분석 이미징 (analytical imaging) 을 사용하여 재료 구성을 정확하게 평가할 수 있습니다. JEOL JSM 5900 LV에서도 초점 이미징 옵션을 사용할 수 있으며, 다양한 유형의 형광원, 검출기 및 기술을 사용할 수 있습니다. 마지막으로, 현미경은 자동화 모듈 (automation module) 과 사용자의 분석 기능을 더욱 향상시키는 다양한 기능을 갖추고 있습니다. 요약하면, JSM-5900LV는 재료 특성화 및 이미징에 이상적인 현미경입니다. 첨단 전자광학 (Electron Optic) 과 정교한 이미징 (Imaging) 기술을 결합하면 이미지 해상도와 대비가 가장 높으며 EDS와 초점 (Confocal) 기능은 사용자에게 귀중한 데이터를 제공합니다. JEOL JSM 5900LV 의 자동화 모듈 (Automation Module) 과 다른 업그레이드 기능 (Array of other Upgraded Feature) 은 전력 및 편의성만을 더해 줍니다.
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