판매용 중고 JEOL JSM 5900 #9102873

JEOL JSM 5900은 다양한 샘플의 고해상도 이미징 및 측정을 위해 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 뛰어난 전자 프로브 확대를 위해 텅스텐 필라멘트 (tungsten-filament) 전자 총과 필드 방출 총을 사용합니다. 또한 설계를 통해 다양한 정보 채널의 이미지를 고해상도 (high resolution) 로 찍을 수 있습니다. JEOL JSM-5900 (JOL JSM-5900) 은 5,000mm 의 넓은 작업 거리를 갖추고 있으며, 넓은 샘플을 넓은 시야로 분석 및 분석할 수 있습니다. 0.7 나노 미터에서 30 mm까지의 다양한 배율을 지원하며 3 차원 이미징 및 정량 분석을 수행 할 수 있습니다. 또한, 렌즈 내 비디오 및 2 차 전자 이미징 시스템은 이미징 디테일과 해상도를 크게 향상시킵니다. JSM 5900의 고성능 검출기는 2 차 및 백 스캐터 전자를 동시에 수집 할 수 있습니다. 이것은 샘플의 뛰어난 지형 세부 정보를 제공합니다. 또한 표본의 화학적 조성에 대한 자세한 분석을 촉진하는 PMT (photomultiplier tube), CEM (channel electron multiplier) 및 EDX (energy distersive) 시스템과 같은 다양한 검출기가 특징입니다. JSM-5900에는 고급 SEM 작업을 위해 사용하기 쉬운 인터페이스를 제공하는 JEOL Observation Control Tool (JOCT) 도 장착되어 있습니다. 또한 많은 수의 이미징 채널을 수집하고, EDX/WDS 시스템의 이미지와 스펙트럼을 처리, 분석할 수 있습니다. 또한, 시스템은 자동 정렬 및 샘플 필름 두께 측정과 같은 자동화 기능을 갖추고 있습니다. 전반적으로 JEOL JSM 5900은 최적의 이미징 및 분석 기능을 제공하는 강력한 스캐닝 전자 현미경입니다. 사용자 친화적 인 JOCT 인터페이스는 장치 작동을 단순화하는 반면, 다중 탐지기 (Multiple Detector) 및 자동 기능 (Automated Function) 은 실험실의 고해상도, 고급 이미징 요구를 위한 최적의 선택입니다.