판매용 중고 JEOL JSM 5800LV #293820898

JEOL JSM 5800LV 주사 전자 현미경은 마이크로 및 나노 구조를 관찰하고 분석하는 데 사용되는 고급 전기 현미경 도구입니다. 전기적 으로 가속 되고 일련 의 전자기 "렌즈 '를 통과 하여 표본 에 교차점 을 형성 하는 전자" 빔' 을 사용 하여 작동 시킨다. 결과 전자는 샘플에서 다른 유형의 이온화 (ionization) 를 유발하고 추가 분석을 위해 감지 및 측정 된 신호를 생성한다. JEOL JSM 5800 LV에는 높은 배율을 달성 할 수있는 높은 외부 진공실이 있으며, 이미징, 입자 분석, 원소 매핑, 심지어 공명 분석 등 다양한 작업을 위해 설계되었습니다. 이 현미경은 또한 다양한 모드 (Mode) 와 컨트롤 (Control) 을 가지고 있으며, 사용자가 원하는 응용 프로그램에 맞게 빔 매개변수를 다듬을 수 있습니다. JSM 5800LV에는 3 개의 고급 탐지기 (Advanced Detector) 가 장착되어 있어 해상도와 감도가 뛰어납니다. 이러한 검출기 (detector) 는 다양한 구성에서 여러 이미지를 원활하게 캡처할 수 있으며, 이를 통해 사용자가 전체 장면을 볼 수 있습니다. 또한 JSM 5800LV 에는 가변 압력 (Variable Pressure) 모드가 있으며, 이를 통해 사용자가 수행 중인 작업에 대한 최적의 진공 수준을 선택할 수 있습니다. 고출력 전자원과 함께 고급 진공 내 광학 (in-vacuum optics) 은 현미경으로 인해 색이 충실한 크리스탈 클리어 이미지를 얻을 수 있습니다. 이 시스템은 최대 5nm 해상도로 이미지를 생성할 수도 있습니다. 또한 JEOL JSM 5800LV는 현미경의 이미징 매개변수를 자동으로 제어하여 일관성 있고 신뢰할 수있는 이미지를 제공합니다. 이미지 및 측정 기능 외에도, JSM 5800 LV 는 다양한 자동 샘플 테스트, 준비, 마운팅 기술을 갖추고 있습니다. 이러한 기술을 통해 사용자는 마이크로 (micro-) 또는 나노 (nano) 구조의 다양한 특성과 특성을 빠르게 분석 할 수 있습니다. 이 현미경의 다목적이고 견고한 디자인은 의료 연구, 반도체 생산, 산업 개발 등 다양한 산업을 위한 이상적인 도구입니다 (영문).