판매용 중고 JEOL JSM 5800LV #293760985

JEOL JSM 5800LV SEM (Scanning Electron Microscope) 은 다양한 과학 탐사에 사용되는 강력하고 신뢰할 수있는 도구입니다. 고분자, 도자기, 금속, 반도체 등 다양한 물질에 적합한 고성능 장치다. 특히 서브 미크론 (submicron) 또는 나노 미터 (nanometer) 해상도로 재료의 표면 구조를 감지하는 데 적합합니다. JEOL JSM 5800 LV 는 다양한 기능과 기능을 갖추고 있어 사용자에게 최상의 성능을 제공합니다. 첫째, 작동 중 대기와 상호 작용하는 전자로 인한 샘플 손상을 방지하기위한 가변 압력 장비 (variable pressure equipment) 가 있습니다. 둘째, BDS (Backscattered Detection Unit) 라고하는 고급 전자 탐지 시스템을 특징으로하며, 이는 최대 2 차의 동적 범위를 허용합니다. 이 기계는 또한 감도로 인해 샘플의 디지털 이미징 (digital imaging) 을 활성화합니다. 또한 JSM 5800LV의 SEM 스캐너 (SEM scanner) 는 작동이 용이하며 뛰어난 이미지 해상도를 제공합니다. 빔 가속 전압은 1.5kV 및 2.5kV로 최적화되며 스캐닝 범위는 최대 45kV이며 최대 해상도는 1.3nm (0.13äm) 입니다. 무대는 동력화되어 있으며 이동 가능한 샘플 홀더를 갖추고 있으며 x, y, z 축을 따라 빠르고 쉽게 움직일 수 있습니다. JSM 5800 LV의 에너지 분산 분광법 (EDS) 도구를 사용하면 샘플의 원소 분석을 할 수 있습니다. 이를 통해 사용자는 전체 샘플에서 스펙트럼 (spectrum) 을 수집하고 점 매핑 (point mapping) 을 수행할 수 있습니다. 또한, 이 장치는 이미지의 대비, 밝기, 샘플링 심도를 향상시키기 위해 다양한 이미지 교정을 제공합니다. 또한 JSM 5800LV는 안전 고려 사항을 고려하여 설계되었습니다. x-ray 감지 에셋 (x-ray detection asset) 과 이온 보호 메커니즘은 위험할 경우 사용자에게 경고를 줍니다. 그것의 재활용 모델은 또한 고가속 전압 (high acceleration voltage) 뿐만 아니라 고에너지 전자 빔 (electron beam) 에 의해 샘플이 손상되지 않도록 방지합니다. JEOL JSM 5800LV Scanning Electron Microscope는 다양한 재료를 연구하기위한 강력하고 신뢰할 수있는 도구입니다. 이 제품은 다양한 기능을 통해 뛰어난 성능과 이미지 해상도 (image resolution) 를 제공하며, 샘플과 사용자를 방사선으로부터 보호하기 위한 안전 (safety) 기능을 제공합니다. 특히 나노 미터 수준까지 표면 구조를 이미징하는 데 적합합니다.