판매용 중고 JEOL JSM 5800LV #293586819

JEOL JSM 5800LV는 재료 과학 및 고체 전자 응용을위한 고해상도 이미징 기능을 제공하는 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 고해상도 전자원 (field-emission electron source) 과 콜드 프로브 (cold probe) 샘플 홀더가 장착되어 있어 향상된 해상도를 위해 샘플 온도가 매우 낮습니다. JEOL JSM 5800 LV의 고에너지 전자 빔 (beam) 은 다양한 재료의 높은 처리량 영상을 가능하게합니다. 그것의 깊이가 크고 나노 스케일 (nano-scale) 에서 마이크로 스케일 (micro-scale) 에 이르기까지 구조적 특징을 상상 할 수 있습니다. JSM 5800LV 는 크기 봉투 (옵션) 를 사용하여 직경 175mm 이상의 샘플을 수용하도록 설계된 대형 진공실을 갖추고 있습니다. 모니터에 연결되어 손쉽게 이미지를 볼 수 있도록 초점과 배율을 조절할 수 있는 듀얼 (dual) TV 카메라 (camera) 장비가 장착되어 있다. 또한, 대형 챔버 (large chamber) 를 사용하면 오버레이 기능으로 최대 3 개의 샘플을 동시에 이미징할 수 있습니다. JSM 5800 LV 는 통합 데이터 획득 및 분석 시스템 (Integrated Data Acquisition and Analysis System) 을 통해 전자 현미경 이미지를 실시간으로 기록 및 분석할 수 있습니다. 이 장치에는 강력한 이미지 분석 머신 (image analysis machine) 이 포함되어 있어 자동화된 이미지 처리, 데이터 분석 및 정량적 측정이 가능합니다. 통합 도구는 또한 샘플 이미지 및 회절 데이터의 3D 재구성을위한 특수 소프트웨어를 제공합니다. JSM 5800LV는 재료 과학 및 솔리드 스테이트 전자 어플리케이션에 고해상도 이미징 기능을 제공하도록 설계된 다목적 SEM (Versatile SEM) 입니다. 고급 하드웨어 (advanced hardware) 와 소프트웨어 (software) 의 조합으로 나노스케일 (nanoscale) 수준의 재료와 장치의 고해상도 이미지를 얻을 수 있습니다. 운영 측면에서 볼 때, 대규모 진공실과 통합된 데이터 획득/분석 자산은 효율적이고 신뢰할 수 있는 툴입니다. 또한, 저온 프로브 (low-temper) 샘플 홀더를 사용하면 매우 높은 해상도로 다양한 재료를 이미징 할 수 있습니다. 이는 많은 재료 과학 응용 프로그램에 필수적입니다.