판매용 중고 JEOL JSM 5800 #9243695
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ID: 9243695
Scanning Electron Microscope (SEM)
With EDAX EDS
Chiller
Internal deck computer, CRT.
JEOL JSM 5800은 연구 및 과학 응용을위한 뛰어난 이미징 기능을 제공하는 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 현미경은 초 민감성 2 차 전자 검출기를 사용하여 샘플에서 다양한 세부 사항을 감지하므로, 사용자가 감지하기 어려운 기능의 자세한 이미지를 얻을 수 있습니다. 유연한 총 정렬 장비, 고가속 전압, 최대 0.15nm의 초고해상도를 갖추고 있습니다. JEOL JSM-5800 (JOL JSM-5800) 은 나노미터 범위까지 이미징 기능이 가능하여 가장 작은 샘플에서도 놀라운 디테일을 제공합니다. JSM 5800에는 2 차 전자 검출기 (SED) 와 in-lens 백스캐터 검출기 (BSD) 를 포함한 2 개의 검출기가 장착되어 있습니다. SED 는 최대 150000X 의 확장성을 갖춘 향상된 수준의 Detail 및 Resolution 을 제공합니다. BSD는 전송 및 역 산란 전자를 감지 할 수 있으며, 이는 원소 분석과 같은 응용에 유익합니다. 두 검출기 모두 다양한 조정 (adjustment) 을 통해 사용자가 응용 프로그램에 맞게 사용자 정의할 수 있습니다. 감지기 외에도, JSM 5800 (JSM 5800) 은 조절 가능한 총 정렬 시스템을 특징으로하며, 이는 전자빔을 연구 중인 샘플과 정렬하는 데 사용될 수 있습니다. 이것은 불완전한 정렬로 인한 오류 및 인공물을 줄이는 데 도움이되며, 정확한 이미징에 필수적입니다. 현미경에는 조정 가능한 가속 전압이 있으며, 이는 0.5 내지 30.0kV 사이에서 조정 될 수있다. 이것은 생물학적 샘플과 반도체 재료와 같은 성질이 다른 샘플을 이미지 (image) 할 수 있습니다. 또한 JSM-5800에는 자동 기능 인식 장치가 포함되어 있어 샘플 분석이 용이합니다. 이 기계는 머신 러닝 (Machine Learning) 기술을 사용하여 샘플 내에서 다양한 기능을 감지하고 구별하여 이미징 및 분석에 소요되는 시간을 줄입니다. 마지막으로, 현미경에는 정교한 제어 도구 (Control Tool) 가 장착되어 있어 사용자가 쉽게 기기를 구성하고 작동 할 수 있습니다. 전반적으로 JEOL JSM 5800 (JOL JSM 5800) 은 매우 강력한 스캐닝 전자 현미경으로, 다양한 연구 및 과학 응용 분야에 뛰어난 이미징 기능과 기능을 제공합니다. 고급 탐지기, 조절 가능한 총 정렬 자산, 조정 가능한 가속 전압, 자동 기능 인식 모델, 정교한 제어 장비를 갖춘 JEOL JSM 5800은 과학자와 연구자에게 귀중한 도구입니다.
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