판매용 중고 JEOL JSM 5800 #9219589

JEOL JSM 5800은 고해상도 이미징 및 재료 분석을 제공하기 위해 설계된 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 전자 빔을 사용하여 샘플에 의해 방출 된 2 차 전자 또는 역 산란 전자 (BSE) 를 검출하여 이미지를 생성합니다. SEM (High Resolution Imaging) 기능은 다양한 형태, 구조 및 샘플의 원소 구성을 관찰 할 수 있습니다. JEOL JSM-5800에는 5 미터 가변 압력 챔버 (variable pressure chamber) 가 장착되어 있어 다양한 입자 밀도로 샘플을 관찰 할 수 있습니다. 저온 전자원은 이미지 선명도와 해상도를 유지하면서 샘플 손상을 방지합니다. JSM 5800에는 전장 및 전장 보정 코일, 조리개 일관성 및 가스전 콘덴서 렌즈 (pre-gas condenser lens) 를 포함하는 고급 전자 광학 시스템이 장착되어 있습니다. 이러한 구성 요소는 이미지 해상도와 대비를 향상시킵니다. 이 시스템에는 에너지 분산 X- 선 (EDX) 분석이 가능한 렌즈 내 검출기가 있습니다. 이를 통해 사용자는 샘플 구성을 평가할 수 있습니다. JSM 5800 (JSM 5800) 은 가변 구성이나 지형으로 샘플을 관찰할 때 빠르고 정확한 측정을 수행하는 데 도움이 되는 자동 초점 (automated focus) 기능을 갖추고 있습니다. 디지털 마이크로프로세서에 의해 제어되는 열 내 에너지 필터 (in-column energy filter) 는 이중 산란 및 빔 오염으로 인해 발생할 수있는 거짓 이미지 신호를 줄이는 데 도움이됩니다. 이 기능을 사용하여 얇거나 평평한 샘플의 고대비 (high-contrast) 이미지를 얻을 수도 있습니다. JEOL JSM 5800에는 샘플의 모양, 조성, 전기 특성 등을 분석하기위한 다양한 이미징 모드가 장착되어 있습니다. 밝고 어두운 필드 이미징 모드는 '신호-중립 (signal-neutral)' 값을 사용하여 샘플의 지형 기능을 감지합니다. [확대 이미지 분석] 소프트웨어에는 현미경이 함께 제공되어 이미지의 픽셀을 정량적으로 분석할 수 있습니다. 결론적으로, JSM-5800 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 은 고해상도 이미지를 제공하고, 형태 학적 특징을 분석하고, 샘플의 원소 구성을 제공 할 수있는 고급 장비입니다. 현미경의 다양성과 쉬운 조작성은 많은 응용 프로그램, 특히 재료 과학 연구 (material science research) 에 유용한 도구입니다.