판매용 중고 JEOL JSM 5800 #9175177

JEOL JSM 5800은 물질의 표면 지형, 조성 및 화학 결합의 고해상도 이미징 및 정밀 분석을 위해 설계된 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 기기는 주로 연구 응용 프로그램 (failure analysis, quality control, process control) 과 같은 산업 응용 프로그램 (failure application) 에 사용됩니다. JEOL JSM-5800은 표본을 최대 500,000X까지 확대 할 수있는 고해상도 텅스텐 필라멘트 전자 총을 특징으로합니다. 이 총은 표본 (sample) 과 이미징 (imaging) 요구 사항에 따라 달라질 수있는 다양한 고에너지 해상도에서 정확하게 집중된 전자의 빔을 생성 할 수 있습니다. 포인트 앤 샷 (point-and-shot) 이미징의 경우, 전자 총은 전체 시야에서 매우 균일 한 이미지 해상도의 가변 시야를 생성 할 수 있습니다. 기기의 두 번째 주요 구성 요소는 디지털 이미징 시스템입니다. 배율, 해상도, 시야 (field of view), 명암비 (contrast) 등 이미징 매개변수에 대한 가변 제어가 가능한 렌즈의 광학 배열로 구성됩니다. 이 시스템에는 결과 이미지를 캡처할 수 있는 카메라 헤드도 내장되어 있습니다. 표본의 분석을 수행하기 위해, 기기에는 샘플의 상대적 풍부도를 결정할 수있는 통합 EDS (에너지 분산 분광학) 검출기가 장착되어 있습니다. 이 기능은 JSM 5800을 미세 구조, 구성 순도 및 구조 무결성의 표면 분석에 이상적인 도구로 만듭니다. 마지막으로, 이 기구의 고정밀 틸팅 및 회전 단계 (high-precision tilting and rotation stage) 는 크기가 몇 센티미터 정도라도 더 큰 샘플을 쉽고 정확하게 조작 할 수 있습니다. 이는 JEOL JSM 5800 의 주요 장점 중 하나입니다. 즉, 기존의 SEM 보다 훨씬 높은 정도의 정확도로 샘플 포지셔닝을 허용하기 때문입니다. 요약하면, JSM-5800 (JSM-5800) 은 다양한 기능과 기능을 갖춘 강력한 스캐닝 전자 현미경 (scanning electron microscope) 으로, 표면 지형 분석에서 조성 및 구조 테스트에 이르기까지 다양한 응용 분야에 적합합니다. 고해상도 텅스텐 전자총 (tungsten electron gun), 디지털 이미징 시스템 (digital imaging system), 에너지 분산 분광법 (energy dispersive spectroscopy), 정밀 회전 단계 (precision rotation stage) 는 연구 및 산업 응용 모두에 적합한 선택입니다.