판매용 중고 JEOL JSM 5610LV #9259734

JEOL JSM 5610LV는 가변 압력 시스템을 사용하여 작은 샘플의 고해상도 이미지를 허용하는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 기기를 통해 사용자는 다양한 수준의 확대/해상도로 표본을 볼 수 있으며, 다재다능성을 더하는 저전압 범위 (35 ~ 2,000 V) 를 제공합니다. 고해상도 이미징의 경우, 현미경에는 거의 즉각적인 원소 매핑 및 샘플의 에너지 필터링 이미징을 제공하는 Oxford Instruments IX35 X-MAXN 에너지 분산 X- 선 검출기가 장착되어 있습니다. 통합 스테이지 틸트 사양은 + 30/-30 ° 이고 스테이지 길이는 80mm입니다. 또한, 이 기기는 유지 보수 및 운영자에 쉽게 액세스 할 수 있도록 설계되었습니다. 이미징 기능 측면에서 JSM 5610LV는 2 차 전자 (SE) 에서 5nm 시야로 1nm의 이미징 해상도를 생성 할 수 있습니다. 또한, BSE (backscattered electron) 모드에서 14nm 시야로 5-10nm 사이의 이미징 해상도를 제공 할 수 있습니다. 이 현미경은 이미지 획득 외에도 입자 식별 (particle identification) 및 입자 계산 (particle counting) 작업에 대한 자동 피쳐 인식 기능을 제공합니다. 이 기기는 이더넷 연결 (Ethernet connection) 과 독립형 시스템 모드 (Standal-Alone System Mode) 로 작동하므로 사용자가 전압, 유지 시간, 디스플레이 밝기, 명암비 등 다양한 매개변수를 조정할 수 있습니다. 또한, 사용자는 자동화된 이미지 획득 및 제어 소프트웨어를 사용하여 자동 이미징 (automated imaging) 프로토콜을 설정할 수 있습니다. 또한 유연한 사후 처리 (post-processing) 옵션을 통해 데이터를 조작하고 이미지를 익스포트하여 검토할 수 있습니다. 전반적으로 JEOL JSM 5610LV는 강력하고 다용도 있는 SEM으로, 고해상도 이미징 및 다양한 이미징 기능을 제공합니다. 또한, 다양한 기능을 통해 재료 분석, 연구, 품질 관리 등 다양한 애플리케이션에 적합합니다.