판매용 중고 JEOL JSM 5600LV #9260440

JEOL JSM 5600LV는 고해상도 이미징 및 빠른 처리를 위해 노력하는 사용자를 위한 고급 이미징 기술로 개발된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 이 현미경은 전자 광학을 사용하여 최대 100,000 x 의 이미지를 확대합니다. 우수한 성능은 빠른 드리프트 보정 기능과 고급 전자 광학을 갖춘 FEG (Ultra High Brightness Field Emission Gun) 전자원으로 구성됩니다. 또한, 이 SEM에는 견고한 19cm 진공실이 장착되어 있어 그 어느 때보 다 높은 해상도의 이미징이 가능합니다. JSM 5600LV의 자동 조작 및 제어 시스템은 고해상도와 향상된 이미지 해상도를 제공합니다. 이를 통해 쉽고 빠르고 정확한 샘플 포지셔닝을 수행할 수 있습니다. 자동화된 XY 스테이지는 높은 정밀도로 세밀하게 조정할 수 있으며, 이미징의 뛰어난 재생성을 보장합니다. 또한, 자동 제어 시스템 (Automated Control System) 을 사용하면 샘플을 유기 유체 또는 액체에 잠글 수 있으며, 이는 샘플 손상의 위험을 최소화하면서 뛰어난 이미징 성능을 제공합니다. JEOL JSM 5600LV 는 EDX 검출기 (detector) 를 비롯한 다양한 옵션으로 지원되며, 이를 통해 사용자는 샘플에서 요소 정보를 얻을 수 있습니다. 이미지 가시성을 획기적으로 향상시키는 뛰어난 이미지 처리 기능을 갖추고 있습니다. 각 신호는 증폭되어 이미지 정확도와 정의가 향상되도록 처리됩니다. 또한, JSM 5600LV는 특수 장치 구조 설계의 결과로 전자 배경 감소 (reduced electron background) 와 시야각 개선 (enhanced viewing angle) 으로 최고 성능을 제공합니다. JEOL JSM 5600LV는 고급 SEM 이미징 기술이 필요한 연구 그룹 및 실험실에 이상적인 선택입니다. 최대 100,000 x 의 이미지 해상도를 제공하며, 자동화된 제어 시스템을 통해 고도로 재현 가능한 이미징 성능을 보장합니다. 현미경에는 견고한 19cm 진공실이 있으며, 이미지 처리 알고리즘이 개선되어 뛰어난 이미징 성능을 제공합니다. 뛰어난 성능은 EDX 탐지기, 향상된 신호 증폭, 이미지 해상도 등 다양한 옵션으로 뒷받침됩니다. JSM 5600LV를 사용하면 안정적이고 향상된 이미징 결과를 얻을 수 있습니다.