판매용 중고 JEOL JSM 5510 #199715

JEOL JSM 5510은 고성능, 정확성 및 뛰어난 이미징 기능을 결합하여 사용자에게 강력한 작은 샘플 분석을 제공하는 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 고해상도 이미징 (high resolution imaging), 요소 분석, 다양한 샘플과 산업에 대한 샘플 분석 등을 정확하게 수행할 수 있습니다. JSM 5510은 고급, 고주파 CFEG (Cold Field Emission Gun) 소스를 사용하여 비교할 수없는 정확도의 고도로 집중된 전자 빔을 만듭니다. 이렇게 하면 작동 전압이 낮아지고 해상도가 높은 이미지가 생성됩니다. JEOL JSM 5510은 뛰어난 이미징 기능을 위한 높은 컬렉션 각도 감지 장비를 갖추고 있습니다. 이 시스템은 최대 3nm (3nm) 의 해상도와 최신 디지털 이미징 기술을 통해 샘플의 표면을 최대 500,000 배까지 확대할 수 있습니다. JSM 5510은 Wi-Fi 연결, 자동 초점, 초과 샘플 속도 최적화 및 간단한 작동 모드를 통합하는 고급 제어 장치를 제공합니다. 따라서, 디바이스를 빠르고 쉽게 튜닝하고 작동할 수 있습니다. 또한 JEOL JSM 5510에는 통합 스테레오 카메라가 장착되어 있어 표본의 스테레오 깊이 분석이 가능합니다. 또한 JSM 5510 은 다양한 특수 액세서리 (accessory) 를 갖추고 있어 가장 광범위한 재료와 환경에서 고품질 이미징을 구현할 수 있습니다. 여기에는 소설 검출기, EDS 검출기 및 내장 오염 정화기가 포함됩니다. JEOL JSM 5510은 재료 연구, 분석, 라인 측정, 양자 작동 등을위한 실용적이고 강력한 도구입니다. 결론적으로, JSM 5510은 강력한 고성능 SEM (SEM) 으로, 고급 기능, 특화된 액세서리 어레이, 뛰어난 이미지 결과를 제공하는 정확한 작동을 제공합니다. 낮은 작동 전압, 높은 수집 각도 감지 도구, Wi-Fi 연결 등이 모두 결합하여 효율적이고 정확한 기기를 만듭니다.