판매용 중고 JEOL JSM 5510 LV #9236006

JEOL JEM 5510은 재료 과학 및 물리 과학 연구의 다양한 응용 및 기술을 위해 설계된 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 모델은 텅스텐 필라멘트 음극 (tungsten filament cathode) 을 사용하여 표본을 향해 가속 된 전자의 빔을 방출합니다. 이를 통해 샘플의 고해상도 및 고해상도 이미지를 사용할 수 있습니다. 그 표본 은 공기 가 들어오지 않도록 진공 환경 에 놓여 있고, 전자 "빔 '을 방해 한다. JEM 5510에는 5 x 10-7Torr의 압력 조건을 달성 할 수있는 전용 진공 시스템이 포함되어 있습니다. 고화질 전자 빔은 45kV 텅스텐 필라멘트 음극 (tungsten filament cathode) 을 통해 생성되며, 고해상도 이미지와 저해상도 이미지를 조정하기 위해 조정 할 수 있습니다. JEOL JEM 5510의 백스캐터 검출기 (backscatter detector) 를 사용하면 영상과 영화를 0.5nm까지 해상도로 캡처할 수 있습니다. 또한, 이 모델은 시편의 가장 작은 세부 사항을 옹스트롬 레벨 (angstrom level) 까지 캡처하는 고 동적 범위 (high-dynamic range) 검출기를 특징으로합니다. JEM 5510에는 자동 샘플 스캔을 허용하기 위해 전동 스테이지가 장착되어 있습니다. 이를 통해 동일한 평면을 따라 표본을 자동으로 포인트 투 포인트 (point-to-point) 스캔할 수 있습니다. 미리 정의 된 샘플 홀더는 최대 8.5cm 직경의 표본을 보유합니다. 더 높은 해상도의 이미징을 위해 JEOL JEM 5510은 2 차 전자 검출기를 제공하여 더 높은 명암과 더 높은 해상도의 이미지를 제공합니다. 이 검출기는 유기 물질로 표본을 이미징하는 것과 같은 저진공 응용에 특히 유용합니다. 또한, 방출 원 (emission source) 의 고급 디자인은 외부 자기장이 더 섬세한 이미징 요구 사항을 방해하지 못하게합니다. JEM 5510의 다용도 디자인은 소프트웨어 기능까지 확장됩니다. 이 모델에는 컴퓨터 운영 사용자 인터페이스 (computer operated user interface) 가 포함되어 있어 다양한 이미징 모드와 데이터 처리 기능을 액세스할 수 있습니다. 전반적으로 JEOL JEM 5510은 강력한 스캐닝 전자 현미경으로, 작은 규모와 높은 처리량 이미징에 적합합니다. 강력한 빌드 품질, 고급 기능, 탁월한 소프트웨어 기능을 갖춘 JEM 5510 은 가격 범위에서 탁월한 가치를 제공합니다.